为了提供最高重复性的晶格尺寸检测结果，Chroma在7202上头使用了独特的光学设计来强化晶格特征。而当晶格尺寸可以被量化之后，分类好的硅片就可以套用于不同的生产工艺，拿来在不同的电池片生产线进行生产，藉以提高电池片生产时候的平均转换效率。
7202同时也可以检测孔洞瑕疵。而孔洞瑕疵正是造成光伏模组失效的μ-crack或者严重local shunting的原因。
▲ Analysis of pinhole defect
- 可整合到任何硅片分选机上
- 可调整式的演算法可供检测5"、6"以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片
- 多样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线
- 检测晶格尺寸的特殊光源设计
▲ Examples of the grain-size inspection result on 7202
