eDP BIST 모듈 설계는 BIST 모드로 진입할 때 패널에 필요한 신호와 전력을 제공할 수 있는 GIS 청두 공장의 요구 사항을 기반으로 합니다. Chroma 노화 테스트 솔루션과 통합되어 완벽한 eDP 패널 노후화 테스트 솔루션을 제공할 수 있습니다. 이 모듈은 각 랙이 컨트롤러를 통해 여러 번 테스트할 수 있는 드로어 유형의 스택 아키텍처를 채택합니다. 모듈이 전자 컨트롤, 신호 및 사용자 친화적인 작동 인터페이스와 통합되어 있으면 가장 강력한 기능 테스트를 단시간에 수행할 수 있습니다.