薄膜厚度自動光學量測系統 Model 7505-K007

薄膜厚度自動光學量測系統
產品特色
  • 適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測
  • 使用3D光學探頭,進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
  • 使用陶瓷吸附平台,可將待測物吸附於平台上使表面平整,亦不對待測物造成皺褶或破損
  • 3D厚度量測範圍大
  • 可量測透明材質
  • 高靜態量測重複精度
  • 高動態量測重複精度
  • 具備腳本功能可進行自動量測

Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學檢測系統主要整合3D光學探頭,進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析,適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平台,可將待測物吸附於平台上使表面平整,亦不對待測物造成皺褶或破損,3D厚度量測範圍大、設備靜態重複精度高與設備動態重複精度高,具備Recipe功能可進行自動量測,此外系統亦提供檢測數據資料的存檔功能,供後續操作人員處理分析使用。


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