Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學檢測系統主要整合3D光學探頭，進行非破壞性、快速表面厚度量測與分析，適用於Roll To Roll印刷製程、Thin film等薄膜製程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平台，可將待測物吸附於平台上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損，3D厚度量測範圍大、設備靜態重複精度高與設備動態重複精度高，具備Recipe功能可進行自動量測，此外系統亦提供檢測數據資料的存檔功能，供後續操作人員處理分析使用。