Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系統，可提供封裝前後的透鏡與金屬外蓋缺陷進行檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由於載盤可能存在製造公差導致待測物對焦距離均不相同，Chroma 7925配置了自動對焦系統，可自動計算待測物之對焦距離並進行補償，以確保可以取得清楚的檢測影像。

使用者可以自由設定良品與不良品之規則及缺陷編碼，並依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑揀及下片均為全自動化流程，大幅降低人員操作及製程管理發生錯誤的機會。檢測完成後，工程師可以取得詳細的缺陷量化數據，以及儲存缺陷影像以利於再判讀。相較於人工目檢無法保留檢測資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有助於分析製程問題，並進一步提升產品良率。