TO-CAN 封裝外觀檢測系統 Model 7925

TO-CAN封裝外觀檢測系統
產品特色
  • 可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷
  • 具備自動對焦功能,可克服載盤製造公差內的高度差異
  • 檢測完成後可依設定規格挑揀不良品
  • 提供比人工目檢更佳的可靠度及重複性
  • 每小時最高可檢測3600顆待測物
  • 自動化上下料盤,減少人員上下料時間
  • 提供完整的檢測資料,包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系統,可提供封裝前後的透鏡與金屬外蓋缺陷進行檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置,可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由於載盤可能存在製造公差導致待測物對焦距離均不相同,Chroma 7925配置了自動對焦系統,可自動計算待測物之對焦距離並進行補償,以確保可以取得清楚的檢測影像。

使用者可以自由設定良品與不良品之規則及缺陷編碼,並依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑揀及下片均為全自動化流程,大幅降低人員操作及製程管理發生錯誤的機會。檢測完成後,工程師可以取得詳細的缺陷量化數據,以及儲存缺陷影像以利於再判讀。相較於人工目檢無法保留檢測資料,使用Chroma 7925所取得之資料,將有助於分析製程問題,並進一步提升產品良率。

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