Chroma光子芯片烧机及可靠度测试系统荣获2024 TOSIA Award

25 Mar 2024

致茂电子光子芯片烧机及可靠度测试系统Model 58604荣获2024 TOSIA Award杰出产品奖殊荣,此一奖项由光电暨化合物半导体产业协会颁发,依据产品销售地区广泛性、产业效益与营销亮点进行评分,是对产品创新性和卓越性能的高度肯定。


▲Chroma光子芯片烧机及可靠度测试系统荣获2024 TOSIA Award

Chroma 58604 提供各种光子芯片如雷射二极管(LD)、光侦测器 (PD)、讯号调制器(modulator)等组件的老化、信赖性与寿命测试。全系统最高可支持 1,792 信道的光子芯片测试,并提供 28 个独立温控模块,每个模块提供高达64个SMU信道的bi-polar的电压电流输出与量测。

产品杰出特点:

  • 可提供各式光子芯片的老化、信赖性与寿命测试
  • 系统级别的无突波 (spike free)电路设计
  • 高弹性的个别模块 (module)独立操作架构,包括独立的信道 (SMU channel)驱动及量测
  • 支持自动电流控制模式 (ACC)与自动功率控制模式(APC)
  • 精确且稳定的温度与电路控制能力

硅光子技术不断演进,而 Chroma致茂在每一次技术突破的背后,协助客户开发创新科技产品,确保产品的性能、质量与成功。

详细产品方案可链接到Chroma网站,并留下您的需求与联络方式,我们将竭诚的为您服务!

 

Chroma 58604光子芯片烧机及可靠度测试系统