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IC测试分类机 (IC Test Handler)
三温测试分类机
Model 3110-FT
- Temperature Test from -40~125℃
- Final Test or System Level Test
- 3x3mm~45x45mm Package
桌上型单站测试分类机
Model 3111
- 桌上型设计仅占较小空间
- 可放置两个JEDEC料盘
- 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
- 可由软件接口设定分类数
- 测试头内建气室，可吸收及减缓下压触力冲击
三温终端测试分类机
3160-C
- 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
- 更快的Index Time(0.6 sec)
- 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
- Chamber Less的设计
- 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites)
三温系统板测试分类机
Model 3260C
- 高速可靠Pick&Place分类机
- 同步吸嘴双取与双放设计
- IC残留检测功能、通用治具设计
- Nitro TEC主动式温控技术导入
- 更快速的升降温反应速度
Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test Applications
Model 31000R
- Temperature range of -40°C to 150°C
- Compact footprint
- Self-contained – No external chiller required
- Liquid-free Operation
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