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图显示 文显示 IC测试分类机 (IC Test Handler) 双用单站测试分类机Model 3110 运用Pick & Place技术,将待测芯片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类。不但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测试的能力。 加入询价车 三温测试分类机Model 3110-FT Temperature Test from -40~125℃ Final Test or System Level Test 3x3mm~45x45mm Package 加入询价车 桌上型单站测试分类机Model 3111 桌上型设计仅占较小空间 可放置两个JEDEC料盘 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸 可由软件接口设定分类数 测试头内建气室,可吸收及减缓下压触力冲击 加入询价车 无线射频分类机Model 3240-Q 3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机 加入询价车 晶片测试分类机Model 3112 具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机 加入询价车 三温终端测试分类机3160-C 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器) 更快的Index Time(0.6 sec) 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间 Chamber Less的设计 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites) 加入询价车 八站逻辑测试分类机Model 3180 具有八个平行测试站点 9Kpcs产能 温度测试范围从常温到高温150℃ 加入询价车 三温系统板测试分类机Model 3260C 高速可靠Pick&Place分类机 同步吸嘴双取与双放设计 IC残留检测功能、通用治具设计 Nitro TEC主动式温控技术导入 更快速的升降温反应速度 加入询价车 自动化系统功能测试机Model 3240 4-sites 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具 加入询价车 自动化系统功能测试机Model 3260 6-sites 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具 加入询价车 微型IC测试分类机Model 3270 适合CMOS 影像感应元件 (CMOS Image Sensor, CIS)量产所需 加入询价车 Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test ApplicationsModel 31000R Temperature range of -40°C to 150°C Compact footprint Self-contained – No external chiller required Liquid-free Operation 加入询价车
图显示 文显示 IC测试分类机 (IC Test Handler) 双用单站测试分类机Model 3110 运用Pick & Place技术,将待测芯片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类。不但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测试的能力。 加入询价车 三温测试分类机Model 3110-FT Temperature Test from -40~125℃ Final Test or System Level Test 3x3mm~45x45mm Package 加入询价车 桌上型单站测试分类机Model 3111 桌上型设计仅占较小空间 可放置两个JEDEC料盘 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸 可由软件接口设定分类数 测试头内建气室,可吸收及减缓下压触力冲击 加入询价车 无线射频分类机Model 3240-Q 3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机 加入询价车 晶片测试分类机Model 3112 具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机 加入询价车 三温终端测试分类机3160-C 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器) 更快的Index Time(0.6 sec) 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间 Chamber Less的设计 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites) 加入询价车 八站逻辑测试分类机Model 3180 具有八个平行测试站点 9Kpcs产能 温度测试范围从常温到高温150℃ 加入询价车 三温系统板测试分类机Model 3260C 高速可靠Pick&Place分类机 同步吸嘴双取与双放设计 IC残留检测功能、通用治具设计 Nitro TEC主动式温控技术导入 更快速的升降温反应速度 加入询价车 自动化系统功能测试机Model 3240 4-sites 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具 加入询价车 自动化系统功能测试机Model 3260 6-sites 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具 加入询价车 微型IC测试分类机Model 3270 适合CMOS 影像感应元件 (CMOS Image Sensor, CIS)量产所需 加入询价车 Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test ApplicationsModel 31000R Temperature range of -40°C to 150°C Compact footprint Self-contained – No external chiller required Liquid-free Operation 加入询价车