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Chroma提供测试与自动化解决方案，不仅有客制化量测仪器、测试系统、自动化生产线与智慧制造系统的整合能力；多年来于半导体晶片测试领域，Chroma更是深耕多年并拥有众多的产品线，从研发至量产阶段所需的设备如：ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台，皆有完整相对应产品提供客户适合的选择。
Chroma完整的半导体解决方案涵盖了不同的晶片测试应用如：消费型晶片(微处理器、音频晶片、电脑/行动装置周边晶片等)、电源管理晶片(线性稳压器、直流转换器、交流转换器、LED驱动器等)、射频晶片(无线网路、蓝芽、行动通讯等)、以及特定领域测试(影像传感器、无线射频辨识等)。
在自动化分选设备的部分，应用范围则包含ATC与PTC温度控制、大型阵列封装晶片(LAP: Large Array Packaging)处理技术、裸芯片处理、Pick and Place测试机台、CIS统包解决方案、系统层级测试方案。Chroma完整的半导体测试解决方案不仅协助客户控制测试成本，同时仍维持品质表现，是提高竞争力的方案。
Quick Menu
SoC 测试系统
SoC/模拟测试系统
Model 3650-S2
- 12个通用插槽，全部插槽都可配置数字、模拟和混合信号集成电路测试单板使用
- 多达768个数字和模拟测试通道
- 时钟频率: 50 / 100 MHz
- 数据速率: 100 / 200 Mbps (MUX)
SoC/Analog 测试系统
Model 3650
- Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 640 channels
- 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
- Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
SoC/Analog 测试系统
Model 3650-EX
- Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
VLSI 测试系统
VLSI 测试系统
Model 3380P
- 50/100 MHz测试频率、50/100 Mbps数据速率
- 512数字信道管脚 (最高可至 576数字信道管脚)
- 并行测试可达512 sites同测数
- 多样弹性VI电源
VLSI 测试系统
Model 3380
- 50/100 MHz测试频率、50/100 Mbps数据速率
- 1024 I数字信道管脚 (最高1280 数字信道管脚)
- 高达1024 sites并行测试
PXIe Programmable Device Power Supply
Model 33020
- High channel density with 8 channels per card
Universal Relay Driver Control
Model 33011
- PXIe based universal relay control
- 32CH direct relay drivers
- 2 lanes of SPI relay control interface
High Speed PXIe Digital IO Card
Model 33010
- Standard PXIe bus connector
- 100MHz maximum clock rate
- 32 channels per board
IC测试分类机 (IC Test Handler)
Single Site Test Handler
Model 3210
- SLT handler
- Ideal for early device design and engineering validation
- Compatible kit to scale-up production
- ATC Tri-temp -40℃ to 150℃ IC test
双用单站测试分类机
Model 3110
- FT and SLT compatible handler
- Compatible kit to scale-up production
- ATC Tri-temp -40 to 150 ℃ IC test (Optional -55 to 150℃ , -70 to 150℃)
- Auto tray loading/unloading and device sorting capability
三温测试分类机
Model 3110-FT
- Temperature Test from -40~125℃
- Final Test or System Level Test
- 3x3mm~45x45mm Package
桌上型单站测试分类机
Model 3111
- 桌上型设计仅占较小空间
- 可放置两个JEDEC料盘
- 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
- 可由软件接口设定分类数
- 测试头内建气室，可吸收及减缓下压触力冲击
三温终端测试分类机
3160-C
- 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
- 更快的Index Time(0.6 sec)
- 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
- Chamber Less的设计
- 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites)
三温系统板测试分类机
Model 3260C
- 高速可靠Pick&Place分类机
- 同步吸嘴双取与双放设计
- IC残留检测功能、通用治具设计
- Nitro TEC主动式温控技术导入
- 更快速的升降温反应速度
Temperature Forcing System
Model 31000R Series
- -70°C to 150°C temperature range
- Cost competitive
- Compact footprint
- Semi-automation
- Liquid-free Operation
形貌量测系统
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