Chroma提供测试与自动化解决方案,不仅有客制化量测仪器、测试系统、自动化生产线与智慧制造系统的整合能力;多年来于半导体晶片测试领域,Chroma更是深耕多年并拥有众多的产品线,从研发至量产阶段所需的设备如:ATE大型测试系统、IC分选机以及PXI/PXIe小型化测试平台,皆有完整相对应产品提供客户适合的选择。

Chroma完整的半导体解决方案涵盖了不同的晶片测试应用如:消费型晶片(微处理器、音频晶片、电脑/行动装置周边晶片等)、电源管理晶片(线性稳压器、直流转换器、交流转换器、LED驱动器等)、射频晶片(无线网路、蓝芽、行动通讯等)、以及特定领域测试(影像传感器、无线射频辨识等)。

在自动化分选设备的部分,应用范围则包含ATC与PTC温度控制、大型阵列封装晶片(LAP: Large Array Packaging)处理技术、裸芯片处理、Pick and Place测试机台、CIS统包解决方案、系统层级测试方案。Chroma完整的半导体测试解决方案不仅协助客户控制测试成本,同时仍维持品质表现,是提高竞争力的方案。

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SoC 测试系统

SoC/模拟测试系统 Model3650-S2
SoC/模拟测试系统
Model 3650-S2
  • 12个通用插槽,全部插槽都可配置数字、模拟和混合信号集成电路测试单板使用
  • 多达768个数字和模拟测试通道
  • 时钟频率: 50 / 100 MHz
  • 数据速率: 100 / 200 Mbps (MUX)
先进SoC测试系统 Model3680
先进SoC测试系统
Model 3680
  • 24个可互换插槽,用于数字、模拟和混合信号应用
  • 最高1Gbps数据速率
  • 最高2048 sites并行测试
  • 多达2048个数字通道管脚
无线射频功能单板 HDRF2
无线射频功能单板
HDRF2
  • 4 VST, 32射频端口
  • 精准稳定Direct Mount连接方式
  • 8/16 Sites测试
  • Wi-Fi、BT、Sub 6GHz、IOT、GPS、LoRa、NB-IoT
SoC/Analog测试系统 Model3650
SoC/Analog 测试系统
Model 3650
  • Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
SoC/Analog测试系统 Model3650-EX
SoC/Analog 测试系统
Model 3650-EX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX

VLSI 测试系统

VLSI测试系统 Model3380P
VLSI 测试系统
Model 3380P
  • 50/100 MHz测试频率、50/100 Mbps数据速率
  • 512数字信道管脚 (最高可至 576数字信道管脚)
  • 并行测试可达512 sites同测数
  • 多样弹性VI电源
VLSI测试系统 Model3380D
VLSI 测试系统
Model 3380D
  • 50/100 MHz测试频率、50/100 Mbps数据速率
  • 256数字信道管脚
  • 并行测试可达256 sites同测数
  • 多样弹性VI电源
VLSI测试系统 Model3380
VLSI 测试系统
Model 3380
  • 50/100 MHz测试频率、50/100 Mbps数据速率
  • 1024 I数字信道管脚 (最高1280 数字信道管脚)
  • 高达1024 sites并行测试
HighVoltageDevicePowerSupply Model33021
  • PXI Systems Alliance
High Voltage Device Power Supply
Model 33021
  • Max. 48V DC output with 2 channels per card
UniversalRelayDriverControl Model33011
  • PXI Systems Alliance
Universal Relay Driver Control
Model 33011
  • PXIe based universal relay control
  • 32CH direct relay drivers
  • 2 lanes of SPI relay control interface
HighSpeedPXIeDigitalIOCard Model33010
  • PXI Systems Alliance
High Speed PXIe Digital IO Card
Model 33010
  • Standard PXIe bus connector
  • 100MHz maximum clock rate
  • 32 channels per board

IC测试分类机 (IC Test Handler)

SingleSiteTestHandler Model3210
Single Site Test Handler
Model 3210
  • SLT handler 
  • Ideal for early device design and engineering validation
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40℃ to 150℃ IC test
双用单站测试分类机 Model3110
双用单站测试分类机
Model 3110
  • FT and SLT compatible handler 
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40 to 150 ℃ IC test (Optional -55 to 150℃ , -70 to 150℃)
  • Auto tray loading/unloading and device sorting capability
三温测试分类机 Model3110-FT
  • CE Mark
三温测试分类机
Model 3110-FT
  • Temperature Test from -40~125℃
  • Final Test or System Level Test
  • 3x3mm~45x45mm Package
桌上型单站测试分类机 Model3111
  • CE Mark
桌上型单站测试分类机
Model 3111
  • 桌上型设计仅占较小空间
  • 可放置两个JEDEC料盘
  • 支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
  • 可由软件接口设定分类数
  • 测试头内建气室,可吸收及减缓下压触力冲击
无线射频分类机 Model3240-Q
无线射频分类机
Model 3240-Q
3240-Q是一台独特且创新、整合了射频和无线隔离室之自动分类机
晶片测试分类机 Model3112
晶片测试分类机
Model 3112
具备单头与多头之适合量产的PnP自动化晶片测试分类机
三温终端测试分类机 3160-C
  • CE Mark
三温终端测试分类机
3160-C
  • 先进的温控技术(Nitro-TEC 氮气温度控制器)
  • 更快的Index Time(0.6 sec)
  • 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
  • Chamber Less的设计
  • 支持更多样化测试Sites的选择(1/2/4 sites)
八站逻辑测试分类机 Model3180
  • CE Mark
八站逻辑测试分类机
Model 3180
  • 具有八个平行测试站点
  • 9Kpcs产能
  • 温度测试范围从常温到高温150℃
三温系统板测试分类机 Model3260C
三温系统板测试分类机
Model 3260C
  • 高速可靠Pick&Place分类机
  • 同步吸嘴双取与双放设计
  • IC残留检测功能、通用治具设计
  • Nitro TEC主动式温控技术导入
  • 更快速的升降温反应速度
自动化系统功能测试机 Model3240
自动化系统功能测试机
Model 3240
  • 4-sites
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具
自动化系统功能测试机 Model3260
自动化系统功能测试机
Model 3260
  • 6-sites
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具
微型IC测试分类机 Model3270
微型IC测试分类机
Model 3270
适合CMOS 影像感应元件 (CMOS Image Sensor, CIS)量产所需
TemperatureForcingSystem Model31000RSeries
Temperature Forcing System
Model 31000R Series
  • -70°C to 150°C temperature range
  • Cost competitive
  • Compact footprint
  • Semi-automation
  • Liquid-free Operation