-
MyChroma
-
0询价车
-
联系Chroma
Quick Menu
芯片段测试
短脉冲光电元件晶圆点测平台
Model 58636 Series
- 奈秒等级脉冲驱动与量测
- 支持VoS (VCSEL on Silicon)，VoD (VCSEL on Driver) 等异质整合待测物提供数位控制。
- 二合一光学头专利设计，一次下针获取电性(LIV)、光谱、与近场光学测试
- 支持Multi-site/Multi-die测试，增加测试效率
- ↑