三温系统级测试机 Model 3260

三温系统级测试机
三温系统级测试机
产品特色
  • 最大封装尺寸:3 mm × 3 mm – 45 mm × 45 mm
    • 选配项目:
      • 3 mm × 3 mm – 55 mm × 55 mm
      • 3 mm × 3 mm – 70 mm × 70 mm
  • 稳定可靠的高速取放式分选机
  • 同步双吸嘴取放设计
  • 空气阻尼器确保接触平衡
  • 装置防护功能(卡料 / 余料检测、测试座温度控制)
  • 智能良率优化系统
  • 支持堆栈封装(PoP)测试方案
  • 整合射频(RF)测试能力
  • 通用转换治具设计

选配项

  • 兼容三温测试:-40 °C 至 150 °C,具快速温度反馈系统
  • 高功率 PTC 模块:450 W热负载下Device温度维持低于80 °C

Chroma 3260 Full Range ATC系统级测试(SLT)分选机具备坚固的六站式架构,支持-40 °C至150 °C的三温测试,冷却能力高达1,800 W。搭载三温Sea Cobra-E Gen 1热引擎,可提供TSD功能,实现精确的T-junction监控以及快速、实时的温度回馈。

该系统亦可搭载高功率PTC模块,在高达450W的热负载下,仍能将装置温度维持于80 °C以下。3260三温SLT测试分选机提供灵活的测试模式,不仅可同时进行多站测试,亦能针对不同测试站设定独立的温度条件。根据不同应用情境,可快速切换温度条件,有效缩短等待时间。针对如PoP及RF测试等进阶测试场景所优化,3260可在严苛的热环境中提供高速、可靠且一致的测试效能。

Chroma 3260 Tri-Temp SLT Handler
▲ 温度切换时间


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