Chroma 19305系列为绕线组件脉冲测试器，系列机种包含(Chroma 19305)单通道及(Chroma 19305-10)10通道输出测试，最高拥有6kV脉冲电压与200MHz高速取样率提高放电检测能力，10uH感量以上产品测试，拥有波形面积比较、波形面积差比较、波形颤动总量(Flutter)及波形二阶微分数(Laplacian)等判定方法，可有效检测线圈自体绝缘不良。

绕线组件于生产检测包含电气特性、电气安规耐压进行测试，而线圈之自体绝缘不良通常是造成线圈于使用环境中发生层间短路、跨线短路、出脚短路之根源。其形成原因可能源于初始设计不良、加工制程不良或绝缘材料之劣化等所引起，故加入线圈层间短路测试有其必要性。

所谓的「绕线组件脉冲测试」基本上是以一「非破坏性」、高速、低能量之电压脉冲施加在待测物上，再藉由分析/比对待测物良品与不良品之等效波形以达到判定良否之目的。绕线组件脉冲测试主要功能乃在早期发现绕线组件中各种潜在之缺陷，例如：层间短路、甚至是不易发觉之部分放电等。

Chroma 19305系列为针对绕线组件测试需求所设计，利用一高压充电之微小电容(测试能量低)与待测线圈形成RLC并联谐振，由谐振之衰减波形，透过高速且精密的取样处理分析技术，可检验出线圈自体之绝缘不良及局部放电，提供变压器、电感等绕线产品进行层间短路测试，让绕线组件生产厂商及用户在质量验证时，不但拥有可靠的测试质量，能更有效率为产品质量把关。

Chroma 19305-10对于产在线的测试需求提供多通道扫描应用(最大10通道)，单机10通道输出可达成一次多颗扫描测试，节省测试时间及人力成本。

• 波形面积比较 (Area Size)
• 波形面积差比较 (Differential Area)
• 波形颤动总量 (Flutter Value)
• 波形二阶微分数 (Laplacian Value)