Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备，包含芯片电感所需的各项测试功能，并具备制程终端的卷带包装自动化机械，达到生产线的制造自动化。

Chroma 1870D/1870D-12的标准测试功能包含电感值(Ls)/质量因素(Q)量测、绕线电阻(RDC)量测、极性(Polarity)测试，并可选配层间短路测试(IWT)、绝缘电阻(IR)测试及重叠电流(BIAS Current)测试，包含芯片电感的标准规格及质量相关的测试项目。

为因应现今电子产品，微型电感被大量使用，相对的电感需大量生产，Chroma 1870D/1870D-12最大生产效率为1,200ppm，可满足庞大的需求数量。除测试外，1870D/1870D-12也具备自动包装机械，可将产品自动封装于包装卷带，以符合SMD生产所需样式。

Chroma 1870D/1870D-12的供料模块采用圆盘振动送料，圆盘振动送料可高速运送薄型化产品。圆盘振动送料透过轨道设计、光纤侦测及气孔吹气决定入料方向，相较于以往的直线往复式的机械送料，较快速也省空间。

传统往复式机械或炮塔式机械架构在测试移载时，是以吸嘴设计吸附产品进行移载，往往在移载时受移动惯性影响发生产品掉落，或因定位不准确而无法测试。Chroma 1870D/1870D-12的测试区以导引盘架构设计，整体为封闭式的架构， 在进行高速移载时不会有产品遗漏的疑虑，相较于传统机械架构更快速及稳定。

致茂电子专精于电子测试技术，对于自动测试设备的测试治具也有专门的设计。Chroma 1870D /1870D-12测试站所使用的测试座为四线式量测设计，比一般自动测试设备更精准稳定。测试座与产品的连接端采片式设计，相较于探针于使用上容易接触且寿命长，于量测上片式设计也较探针稳定且容易维护。

Chroma 1870D/1870D-12具备专用软件，可于生产过程中实时监控测试状态，将每一个产品的测试数据搜集储存。实时监控功能利于生产单位于生产时降低生产风险，减少不必要生产工时。数据搜集功能有利于研发及品保单位做产品分析或 质量控管，透过软件协助提升生产质量。

研发及品保单位针对产品会进行所有特性检测，分别为基本电气特性及质量相关测试，测试站别则包含极性测试、层间短路测试 (或选择重叠电流测试)、绕线电阻测试及电感/质量因素测试，进而搜集与分析测试数据以评估质量，或进行产品打样试产。Chroma 1870D/1870D-12系统提供弹性化选择，依不同单位或需求选择搭配测试站别。

比照研发端，将全部电气特性测试纳入生产线，包含极性测试、层间短路测试(或选择重叠电流测试)、绕线电阻测试及电感/质量因素测试。

针对产线仅测试标称值来达到快速生产的需求，测试项目则调整为绕线电阻测试及电感/质量因素测试。

部分功率电感需在顶部做标印，以判别电感极性方向或样式类别。Chroma 1870D/1870D-12可配合将客户现有的标印系统及光学检查系统安装整合于系统内。