局部放电测试器 Model 19501-K/19500 Series

局部放电测试器
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局部放电测试器
产品特色
  • 单机内建交流耐压测试与局部放电侦测功能
  • 可程式交流耐压输出0.1kVac~10kVac
  • 高精度及高解析度电流表0.01μA~300μA
  • 局部放电(PD)侦测范围1pC~2000pC
  • 高压接触检查功能( HVCC)
  • 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法规测试要求
  • 内建IEC60747-5-5测试方法
  • 量测与显示单元分离式设计
  • 三段电压测试功能
  • PD测量结果数值显示 (pC)
  • PD不良发生次数判定设定 (1~10)
  • 多语系繁中/ 简中/英文操作介面
  • USB画面撷取功能
  • 图形化辅助编辑功能
  • 标准LAN、USB、RS232远端控制介面

Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(Partial Discharge,PD)侦测功能于一单机,提供交流电压输出0.1kV~10kV, 漏电流测量范围0.01μ A~300μA, 局部放电侦测范围1pC~2000pC,针对高压半导体元件与高绝缘材料测试应用所设计与开发。

Chroma 19501-K局部放电测试器产品设计符合IEC60270-1法规,针对高电压试验技术中对局部放电测试要求,采用窄频滤波器 (Narrowband)量测技术进行PD放电量测量,并将量测结果以直观数值 (pC) 显示在萤幕上让使用者清楚明了待测物测试判定结果。

产品设计上,除了符合IEC60270-1,同时也符合光耦合器IEC60747-5-5与VDE0884法规要求,内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内部,满足光耦合器产品生产测试需求,并提供使用者便利的操作介面。

于生产线上执行高压测试时,如果待测物未能正确及良好连接测试线,将导致测试结果失败甚至发生漏测的风险,因此在测试前确保待测物与测试线良好连接是非常重要的。 Chroma独特之高压接触检查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之元件,于高压输出时同步进行接触检查,增加测试有效性与生产效率。

在固体绝缘物中含有气隙或杂质混合在绝缘层时,额定工作高压状态下,由于较高的电场强度集中于气隙而产生局部放电 (Partial Discharge),持续性的局部放电会长久劣化周遭绝缘材,而影响电气产品之长久信赖性,而引起安全事故。

应用于电源系统之安规元件,如光耦合器,因考量如果元件长时间发生局部放电对于绝缘材料的破坏,而发生绝缘失效的情况,进而引发使用者人身安全问题;因此,在IEC60747-5-5法规中提及,于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行局部放电 (Partial discharge) 检测,在最大绝缘电压条件下不能超过5pC放电量,确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。

局部放电测试器主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受力之元件,提供高压的耐压测试与局部放电侦测,确保产品品质与提升产品可靠度。

 


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