Chroma射频晶片测试仪35806是专为RF ATE测试而设计。使用者可结合现有的Chroma3380/3650/3680系统,快速升级扩充为完整的射频晶片测试方案。 35806测试仪和3380/3650/3680系统在软硬体之间实现了全面性整合,能够迅速且无缝地提供RF ATE测试功能。
35806测试仪也为IoT物联网连接应用提供完整的解决方案。无论是Wi-Fi、Bluetooth蓝牙、Zigbee还是其他标准,35806测试仪都能轻松支援并提供高品质的测试与验证功能,确保产品在不同测试环境中的可靠性和稳定性。另外,35806测试仪采用具备未来趋势的软体定义无线电 (SDR) 架构,具有优良的扩展性,可以轻松适应未来的无线测试标准和新技术。
此外,35806测试仪提供完整且人性化的RF/Digital debug工具,并支援任意信号产生器和除错工具,让用户能够轻松进行故障排除和问题解决。 35806亦提供生产自动化软体的API,快速整合于现有生产线中,以简单易用的R&D/QA人机介面,让操作和设置变得更加轻松。
应用领域
- 物联网连接应用
	
- Wi-Fi (802.11 a/b/g/n/ac/ax)
 - Bluetooth/BLE/BT5
 - IoT (Zigbee, Z-Wave, 802.11 j/p/af/ah)
 - LPWAN: NB-IoT, LoRa
 
 - 广播接收机应用
	
- TV Tuner
 - DVB Tuner
 - FM Tuner
 
 - 卫星定位接收机应用
	
- GPS
 - BeiDou
 - Glonass
 - Gallieo
 
 - 前端模块应用 ( No S Parameter)
	
- FEM
 - PA
 - LNA
 - Switch
 
 
应用情境1
物联网无线通讯晶片 – 射频TRX测试

应用情境2
广播与卫星定位晶片 – 射频输入/中频输出

                        
                        

