Soluzioni Chroma Base e Avanzate per il test di chips True Wireless Stereo

19 Feb 2020

Chroma ATE ha lanciato soluzioni di test complete per i chip True Wireless Stereo (TWS), che incorporano test RF e MCU wireless e misurazioni digitali, analogiche e a segnale misto. I sistemi di test economici Chroma 3380 soddisfano le esigenze dei  progettisti IC attenti al prezzo, mentre i sistemi di test avanzati Chroma 3680 forniscono test veloci e completi per soddisfare le esigenze dei tests piu’ innovativi e ad alta sensibilità dei chip TWS.

I chip utilizzati in TWS sono diventati sempre più diffusi negli ultimi anni. Se nei primi anni erano appena usati negli auricolari ed in semplici circuiti integrati per il Bluetooth e il segnale audio, oggi i chip TWS sono applicati agli altoparlanti intelligenti, altoparlanti wireless e persino ai dispositivi indossabili. Allo stesso modo, il test dei chip TWS si è esteso da test puramente wireless Bluetooth, digitali e di segnale a test di alimentazione, memoria, sensori ed altro ancora.

Le soluzioni per i test sui semiconduttori Chroma ATE sono state riconosciute dall'industria per il loro alto grado di affidabilita’ ,per il livello di integrazione software e hardware e per i loro test sui semiconduttori digitali e analogici di alta qualità a prezzi competitivi. Inoltre, la serie Chroma 3380 detiene una posizione leader nel mercato cinese dei test MCU. La serie 3380 fornisce anche test RF Bluetooth completi, con funzionalità integrate che forniscono un rapporto segnale/rumore di oltre 90dB nel test audio per completare tutti i requisiti di test in una sola volta. Per i prodotti della Serie Premium ad alta sensibilità, la serie Chroma 3680 esegue test di segnale ad alta velocità e fornisce misurazioni di tensione e corrente ad alta precisione. Il suo sottosistema di misura a segnale misto supporta un rapporto segnale-rumore superiore a 110dB. L'interfaccia di connessione del segnale RF del tipo docking station , appositamente progettata per un rapido rilascio , fornisce a Chroma 3680 un'elevata stabilità durante le prove dei prodotti TWS di fascia alta.

Maggiori informazioni sui prodotti:

Convenienza

Chroma 3380

Alte prestazioni

Chroma 3680

 Chroma 3380

Chroma 3680

Test MCU a 1280 pin
Pattern logico a 100 Mhz
Test MAWI2 ADDA
MP5806 Sub 6 Ghz RF
Test di memoria opzionale
VI a basso costo MXPMU
Sperimentazione in 16 siti in parallelo

Test SoC a 2048 pin
Pattern logico a 1 Gbps
Test HDAVO ADDA
HDRF Sub 6 Ghz RF
Test di memoria opzionale
VI di alta precisione HDVI
Sperimentazione in 8 siti in parallelo