为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。
3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字信道管可并行测256个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
3380D/3380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。
3380D VLSI测试系统非常适合应用于IoT相关的芯片测试，尤其是一些具成本压力的组件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI测试系统3380D/3380P/3380系列开发至今，已在大中华地区被广泛的采用。
满足各种应用范围的芯片测试
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
