为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。
3380D/3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。
3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。
满足各种应用范围的芯片测试
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.
