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Test de niveau d'ensemble

HighDensityLaserDiodeBurn-in&ReliabilityTestSystem Model58604-HD
High Density Laser Diode Burn-in & Reliability Test System
Model 58604-HD
  • Burn-In, reliability, and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel driving and measurement
  • Proprietary spike-free SMU design
  • Up to 500mA single-channel current driving
  • Precise temperature control up to 125ºC
HighChannelDensityBurn-inTester Model58604-C
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
  • Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
  • Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
  • Modular design for easy customization and maintenance
  • Comprehensive ESD protection
  • Independent channels for source and measurement
Systèmedetestdeburn-inetdefiabilitédesdiodeslaser Model58604
  • CE Mark
Système de test de burn-in et de fiabilité des diodes laser
Model 58604
  • Utilisable pour les tests de burn-in, de fiabilité et de durée de vie
  • Modes de contrôle ACC et APC
  • Commande et mesure individuelles des canaux
HighPowerLaserDiodeBurn-InandReliabilityTestSystem Model58605
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
  • Burn-in, reliability and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel for source and measurement
  • Spike-Free sourcing
  • Up to 6000 mA per channel and pulsing
Systèmedetestdebrûlageetdefiabilitédesphotodiodes Model58606
Système de test de brûlage et de fiabilité des photodiodes
Model 58606
  • Test de brûlage, de fiabilité et de durée de vie
  • Courant noir et tension de claquage
  • Source de dispositif bipolaire 256 canaux avec tiroir
  • Source à biais élevé jusqu'à 80 volts