Quick Menu

Test de niveau d'ensemble

PhotodiodeBurn-inandReliabilityTestSystem Model58606
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
  • Burn-in, reliability and life test
  • Dark Current and Breakdown Voltage
  • 256 channels Bi-polar device source per drawer
  • High bias source to 80 volts
Systèmedetestdeburn-inetdefiabilitédesdiodeslaser Model58604
  • CE Mark
Système de test de burn-in et de fiabilité des diodes laser
Model 58604
  • Utilisable pour les tests de burn-in, de fiabilité et de durée de vie
  • Modes de contrôle ACC et APC
  • Commande et mesure individuelles des canaux