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Système de test SoC

SYSTÈMESD'ESSAISOC/ANALOGIQUESAVANCÉS Model3680
  • Taiwan Excellence 2022
SYSTÈMES D'ESSAI SOC / ANALOGIQUES AVANCÉS
Model 3680
  • 24 emplacements interchangeables pour les applications numériques, analogiques et à signaux mixtes
  • Débit de données de 150 Mbps jusqu'à 1 Gbps (multiplexé)
  • Essai en parallèle jusqu'à 512 sites
  • Jusqu'à 2048 broches E/S numériques
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650
  • Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650-EX
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650-EX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX

Système de test VLSI

VLSITestSystem Model3380P
VLSI Test System
Model 3380P
  • 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
  • Up to 512 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
VLSITestSystem Model3380D
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)
VLSITestSystem Model3380
VLSI Test System
Model 3380
  • 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
  • Up to 1024 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
UniversalRelayDriverControl Model33011
  • PXI Systems Alliance
Universal Relay Driver Control
Model 33011
  • PXIe based universal relay control
  • 32CH direct relay drivers
  • 2 lanes of SPI relay control interface
CarteIOnumériquehautevitessePXIe Model33010
  • PXI Systems Alliance
Carte IO numérique haute vitesse PXIe
Model 33010
  • Connecteur de bus PXIe standard
  • Fréquence d'horloge maximale de 100MHz
  • 32 canaux par carte

Automate programmable Pick & Place CI

Poignéeàcontrôlethermiqueactifàgammecomplète Model3110-FT
  • CE Mark
Poignée à contrôle thermique actif à gamme complète
Model 3110-FT
  • Test de température de -40~125℃
  • Test final ou test au niveau du système
Automatedetestssursiteuniquedetable Model3111
  • CE Mark
Automate de tests sur site unique de table
Model 3111
  • Test de température de -40~125℃
  • Test final ou test au niveau du système
  • La machine est conçue pour s'adapter à la table
  • Plateaux JEDEC (2)
  • Ensembles CI : 5x5mm à 45x45mm
  • Regroupement configurable par logiciel
Tri-TempOctalSitesHandler 3160-C
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence 2018
Tri-Temp Octal Sites Handler
3160-C
  • Technologie thermique avancée (Nitro TEC)
  • Temps d'indexation plus rapide 0,6 s
  • Contrôle thermique actif et plage complète de température
  • Conception sans chambre
  • Prend en charge plusieurs sites (site de test unique, double ou quadruple)
Gestionnairedetestsursiteoctal Model3180
  • CE Mark
Gestionnaire de test sur site octal
Model 3180
  • Jusqu'à x8 sites d'essai parallèles
  • Jusqu’à 9000 UPH
  • Test de température à partir de la température ambiante ~ 150 ℃
Gestionnaired'essaihybrideàsiteunique Model3110
Gestionnaire d'essai hybride à site unique
Model 3110
  • FT + gestionnaire SLT - Deux en un
  • Parfait pour la collecte et l'analyse de caractérisation de l'ingénierie des dispositifs
  • Chargement/déchargement automatique du plateau & Dispositif Capacité de triage