Il tester a scarica parziale Chroma 19501-K combina in un unico strumento le funzioni del test dell'ippocampo e del rivelatore PD (scarica parziale). Il dispositivo è in grado di fornire un'uscita CA massima di 10kV con un campo di misurazione della corrente di dispersione da 0,01uA a 300uA e un rilevamento di scarica parziale minimo di 1pC. Il tester è stato appositamente sviluppato per testare componenti semiconduttori ad alta tensione e materiali ad alto isolamento. Il design del 19501-K è conforme alle norme IEC 60270-1 e IEC 60747-5-5 ed è dotato di metodi di prova IEC 60747-5-5 per l'uso. Non solo soddisfa i requisiti dei test di produzione per i prodotti optoaccoppiatori, ma offre anche agli utenti un'interfaccia operativa semplice e conveniente. 

Quando si esegue il test Hipot sulla linea di produzione, una cattiva connessione tra DUT e circuito di test, causerà il fallimento o il bypass del test. Pertanto, è molto importante assicurarsi che il collegamento tra il DUT e il circuito di prova sia in buone condizioni prima di eseguire i test. Per i componenti ad alto isolamento, la funzione HVCC (High Voltage Contact Check) utilizza il metodo di prova Kelvin per eseguire ispezioni dei contatti contemporaneamente alla prova Hipot per migliorare l'affidabilità e l'efficienza del test.