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SoC 테스트 시스템
SoC/Analog Test System
Model 3650-S2
- 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 애플리케이션을 위한 12개의 범용 슬롯
- 최대 768개의 디지털 I/O 및 아날로그 핀
- 50 / 100MHz의 클럭 속도
- 100 / 200Mbps(MUX) 데이터 속도
고급 SoC/아날로그 테스트 시스템
Model 3680
- 응용 분야 지원 범위: MCU, 디지털 오디오, DTV, STB, DSP, 네트워크 프로세서 및 필드, FPGA
- 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 응용 분야에 대해 24개 교체 가능 슬롯
- 150Mbps~1Gbps 데이터 속도(다중 사용됨)
SoC/아날로그 테스트 시스템
Model 3650
- 응용 분야 지원 범위: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
- 최대 640채널로 확장 가능한 플랫폼
- 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
- 다양한 고밀도 옵션, 아날로그, ADDA, 혼합 신호부터 TIA까지 지원
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650-EX
- Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
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