고급 SoC/아날로그 테스트 시스템 Model 3680

고급SoC/아날로그테스트시스템
주요 특징
  • 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 응용 분야를 위한 24개 교체 가능 슬롯
  • 150Mbps~1Gbps 데이터 속도(다중 사용됨)
  • 최대 512 사이트 병렬식 테스트
  • 최대 2048 디지털 I/O 핀
  • 256 MW 벡터 메모리(512 MW 옵션)(X2 모드)
  • 고정밀 측정용 최대 64CH PMU
  • 핀당 시간 측정 유닛/PPMU/주파수 측정
  • 스캔 기능(8G 깊이/스캔 체인)(16G 옵션)
  • 엣지 배치 정확도(EPA): ±150ps
  • 최대 128CH 고밀도 DPS32
  • 고밀도 HDADDA2 혼합 신호 옵션*
  • 고밀도 HDVI 아날로그 옵션*
  • 효과적인 고전력 HCDPS 아날로그 옵션*
  • 고성능HDAVO옵션*
  • Microsoft Windows® 10 OS
  • C#.NET 및 GUI 프로그래밍 인터페이스
  • CRISPro, 직관적 소프웨어 도구 전체 세트
  • 다른 플랫폼용 테스트 프로그램 및 패턴 컨버터
  • 다른 테스터의 DIB 및 프로브 카드 직접 수용
  • STDF 데이터 출력 및 사용자 지정된 데이터 형식 지원
  • 공랭식, 소규모 설치 공간 테스트 헤드 내 테스터 설계

* 이용할 수 있어야 함


반도체 제조는 빠르게 변화하는 산업입니다. 점점 더 많은 기기가 다양한 기능과 고도로 통합되고 있습니다. 따라서 여러 세대의 기기 및 응용 분야에서 살아남을 수 있는 자본 장비를 구축해야 합니다.

Chroma의 최신 SoC/아날로그 테스트 시스템 3680은 다양한 유형의 기기에 호환되어 테스트하도록 유연한 구성 및 광범위한 지원을 제공합니다. 이 시스템은 고속 응용 분야에서 탁월한 시간 정확도에 대해 최대 750Mbps의 디지털 성능, 최대 기본값 256MW 벡터 메모리, ±150ps EPA를 갖추고 있는 24개 범용 슬롯 내에 최대 1024개 핀의 구성을 구축할 정도로 유연하고, 컨버터 테스트용 HDADDA2, 고전압 및 자동차용 HDVI, 400Msps AWG 및 250Msps DIG를 갖춘 성능 혼합 신호용HDAVO등 다양한 옵션을 제공합니다.

또한 3680에는 AC, DC 전력 분산 유닛 및 시스템 전원 공급 장치가 포함된 메인프레인 캐비닛이 갖춰져 있습니다. 자동화된 기기 처리 장비와 도킹되도록 선택적 테스트 헤드 매니퓰레이터가 제공됩니다.

이 시스템은 높은 처리량과 높은 병렬 테스트 기능에 맞게 특별히 설계되어, 생산 시설 없는 IDM 및 테스트 하우스에 대해 최고의 솔루션을 제공합니다. 테스트에 대한 전체 기능, 높은 정확도, 강력한 소프트웨어 및 탁월한 안정성을 갖춘 3680은 소비자 기기, 고성능 마이크로컨트롤러, 아날로그 기기 및 SoC 기기를 테스트하는 데 매우 적합합니다.

 응용 분야

  • MCU(마이크로컨트롤러 유닛)
  • 디지털 오디오
  • DTV(디지털 TV)
  • STB(셋톱 박스)
  • DSP(디지털 신호 처리)
  • 네트워크 프로세서 및 FPGA(필드 프로그리맹 가능 게이트 어레이)

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