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Along the rapid development of technologies like 5G and AIoT, semiconductor devices now contain ever more functionalities, using "system in a package" and "heterogeneous integrated package" methods to run at higher speed with more connection pins. Chroma's semiconductor test solutions address all the needs of SoC by offering various specific functions, such as high-speed digital testing, high performance power source, high fidelity and low noise mixed signal testing, CMOS image sensor testing, as well as true wireless stereo and radio frequency testing. Chroma has also developed series of PXIe instruments and software, leveraging the benefits of PXIe's size and flexibility to drive all your semiconductor innovations.

VLSI 테스트 시스템

VLSI테스트시스템 Model3380P
VLSI 테스트 시스템
Model 3380P
  • 100Mhz 클럭 속도, 512 I/O 채널(최대 576핀)
  • 최대 512 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
VLSITestSystem Model3380D
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)
VLSI테스트시스템 Model3380
VLSI 테스트 시스템
Model 3380
  • 100Mhz 클럭 속도, 1024 I/O 채널(최대 1280핀)
  • 최대 1024 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
고전압장치전원공급 Model33021
  • PXI Systems Alliance
고전압 장치 전원 공급
Model 33021
  • 카드당 2개의 채널로 최대 48V DC 출력
범용릴레이드라이버컨트롤 Model33011
  • PXI Systems Alliance
범용 릴레이 드라이버 컨트롤
Model 33011
  • 반도체 로드 보드용 PXI-e 기반 범용 릴레이 컨트롤
  • 32CH 다이렉트 릴레이 드라이버
  • 2레인 SPI 릴레이 제어 인터페이스
고속PXIe디지털IO카드 Model33010
  • PXI Systems Alliance
고속 PXIe 디지털 IO 카드
Model 33010
  • 표준 PXIe 버스 커넥터
  • 최대 클럭 속도 100MHz
  • 보드당 32채널