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VLSI테스트시스템 Model3380P
VLSI 테스트 시스템
Model 3380P
  • 100Mhz 클럭 속도, 512 I/O 채널(최대 576핀)
  • 최대 512 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
VLSI테스트시스템 Model3380
VLSI 테스트 시스템
Model 3380
  • 100Mhz 클럭 속도, 1024 I/O 채널(최대 1280핀)
  • 최대 1024 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
고전압장치전원공급 Model33021
  • PXI Systems Alliance
고전압 장치 전원 공급
Model 33021
  • 카드당 2개의 채널로 최대 48V DC 출력
범용릴레이드라이버컨트롤 Model33011
  • PXI Systems Alliance
범용 릴레이 드라이버 컨트롤
Model 33011
  • 반도체 로드 보드용 PXI-e 기반 범용 릴레이 컨트롤
  • 32CH 다이렉트 릴레이 드라이버
  • 2레인 SPI 릴레이 제어 인터페이스
고속PXIe디지털IO카드 Model33010
  • PXI Systems Alliance
고속 PXIe 디지털 IO 카드
Model 33010
  • 표준 PXIe 버스 커넥터
  • 최대 클럭 속도 100MHz
  • 보드당 32채널