담당자 연락처:
김경준 차장
TEL: 031-781-1025 | E-mail: jun.kim@chromaate.co.kr

As the technology of optoelectronic components is maturing, its applications are broadening as well. Take laser diodes for example, they are no longer limited to communication applications but have expanded into consumer products. Photonics test solutions mainly focus on testing optoelectronic components, such as photodiode, LED, EEL, and VCSEL. They can also apply to configurations from upstream to downstream processes, including wafer, laser bar, bare chip, CoS, and TO-CAN. Chroma's system integration technology uniquely combines automation equipment with precision current sources, temperature controllers, and automated optical measurement instruments to perform an array of electrical, optical power, wavelength, near-field and far-field optics, and other optoelectronic characteristic and aging tests.

Chroma offers precision instruments such as laser drivers, photodetector monitoring, and temperature controllers. These lab class instruments are often integrated into production solutions for wafer probe test, burn-in and device or module characterization then reinforced with inspection, metrology, robotics, Industry 4.0 and more.

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웨이퍼 레벨 테스트

공정중웨이퍼검사 Model7945
  • CE Mark
공정 중 웨이퍼 검사
Model 7945
  • 양면 검사(포스트-다이스드 웨이퍼)
  • 풀 컬러 결함 감지
  • 빠른 멀티 컴퓨터 이미지 처리
  • 공유형 자동 웨이퍼 로더
광전자웨이퍼프로빙테스트시스템 Model58635Series
광전자 웨이퍼 프로빙 테스트 시스템
Model 58635 Series
  • 최대 6" 웨이퍼
  • QCW 및 CW 작동 모두 지원
  • LIV 테스트, 근거리 테스트, 원거리 테스트, LIV-λ & NF 투인원 테스트
웨이퍼칩검사시스템 Model7940
웨이퍼 칩 검사 시스템
Model 7940
  • 동시 양면 컬러 검사
  • 6"/8”웨이퍼 검사
  • 자동 웨이퍼 정렬
  • 웨이퍼 셰이프/엣지 식별

패키지 레벨 테스트

Photonics모듈테스트시스템 Model58625
Photonics 모듈 테스트 시스템
Model 58625
  • 일체형 테스트 시스템
  • 유연한 테스트 스테이션 배치
  • 정밀 온도 제어 최대 -20~85℃
  • 대형 빔 각도 측정
HighPowerLaserDiodeBurn-InandReliabilityTestSystem Model58605
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
  • Burn-in, reliability and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel for source and measurement
  • Spike-Free sourcing
  • Up to 6000 mA per channel and pulsing
포토다이오드번인및신뢰성테스트시스템 Model58606
포토다이오드 번인 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58606
  • 번인, 신뢰성 및 수명 테스트
  • 암전류 및 파괴 전압
  • 드로어당 256개 채널 무극성 장치 소스
  • 80V의 높은 바이어스 소스
레이저다이오드번인(Burn-in)및신뢰성테스트시스템 Model58604
  • CE Mark
레이저 다이오드 번인(Burn-in) 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58604
  • 번인(Burn-in), 신뢰성 시험 및 수명 시험에 적합
  • ACC 및 APC 제어 모드
  • 개별 채널 구동 및 측정
  • 채널별 500mA 구동 전류 지원
  • 정밀 온도 제어 최대 125℃
  • 개별 모듈 동작
레이저다이오드특성시험시스템 Model58620
레이저 다이오드 특성 시험 시스템
Model 58620
  • 엣지 방출 레이저 다이오드에 대한 풀 턴키 자동화 테스트
  • 고정밀 대용량 캐리어, 다른 자동화 장비와 교환 가능
  • 광 커플드 테스트에 대해 완벽히 자동화된 정렬