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패키지 레벨 테스트
High Density Laser Diode Burn-in & Reliability Test System
Model 58604-HD
- Burn-In, reliability, and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel driving and measurement
- Proprietary spike-free SMU design
- Up to 500mA single-channel current driving
- Precise temperature control up to 125ºC
Photonics 모듈 테스트 시스템
Model 58625
- 일체형 테스트 시스템
- 유연한 테스트 스테이션 배치
- 정밀 온도 제어 최대 -20~85℃
- 대형 빔 각도 측정
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
- Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
- Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
- Modular design for easy customization and maintenance
- Comprehensive ESD protection
- Independent channels for source and measurement
레이저 다이오드 번인(Burn-in) 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58604
- 번인(Burn-in), 신뢰성 시험 및 수명 시험에 적합
- ACC 및 APC 제어 모드
- 개별 채널 구동 및 측정
- 채널별 500mA 구동 전류 지원
- 정밀 온도 제어 최대 125℃
- 개별 모듈 동작
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
- Burn-in, reliability and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel for source and measurement
- Spike-Free sourcing
- Up to 6000 mA per channel and pulsing
포토다이오드 번인 및 신뢰성 테스트 시스템
Model 58606
- 번인, 신뢰성 및 수명 테스트
- 암전류 및 파괴 전압
- 드로어당 256개 채널 무극성 장치 소스
- 80V의 높은 바이어스 소스
레이저 다이오드 특성 시험 시스템
Model 58620
- 엣지 방출 레이저 다이오드에 대한 풀 턴키 자동화 테스트
- 고정밀 대용량 캐리어, 다른 자동화 장비와 교환 가능
- 광 커플드 테스트에 대해 완벽히 자동화된 정렬
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