Along the rapid development of technologies like 5G and AIoT, semiconductor devices now contain ever more functionalities, using "system in a package" and "heterogeneous integrated package" methods to run at higher speed with more connection pins. Chroma's semiconductor test solutions address all the needs of SoC by offering various specific functions, such as high-speed digital testing, high performance power source, high fidelity and low noise mixed signal testing, CMOS image sensor testing, as well as true wireless stereo and radio frequency testing. Chroma has also developed series of PXIe instruments and software, leveraging the benefits of PXIe's size and flexibility to drive all your semiconductor innovations.

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SoC 테스트 시스템

SoC/AnalogTestSystem Model3650-S2
SoC/Analog Test System
Model 3650-S2
  • 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 애플리케이션을 위한 12개의 범용 슬롯
  • 최대 768개의 디지털 I/O 및 아날로그 핀
  • 50 / 100MHz의 클럭 속도
  • 100 / 200Mbps(MUX) 데이터 속도
고급SoC테스트시스템 Model3680
  • Taiwan Excellence 2022
고급 SoC 테스트 시스템
Model 3680
  • 디지털, 아날로그 및 혼합 신호 응용 분야를 위한 24개 교체 가능 슬롯
  • 최대 1Gbps의 데이터 속도
  • 최대 2048개 사이트 병렬 테스트
  • 최대 2048 디지털 I/O 핀
Wireless&RFFunctionBoard HDRF2
Wireless & RF Function Board
HDRF2
  • VST*4 ; RF port*32
  • Direct mount
  • 8/16 sites test
  • Wi-Fi、BT、Sub 6GHz、IOT、GPS、LoRa、NB-IoT
SoC/아날로그테스트시스템 Model3650
SoC/아날로그 테스트 시스템
Model 3650
  • 응용 분야 지원 범위: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
  • 최대 640채널로 확장 가능한 플랫폼
  • 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
  • 다양한 고밀도 옵션, 아날로그, ADDA, 혼합 신호부터 TIA까지 지원
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650-EX
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650-EX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX

VLSI 테스트 시스템

VLSI테스트시스템 Model3380P
VLSI 테스트 시스템
Model 3380P
  • 100Mhz 클럭 속도, 512 I/O 채널(최대 576핀)
  • 최대 512 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
VLSITestSystem Model3380D
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)
VLSI테스트시스템 Model3380
VLSI 테스트 시스템
Model 3380
  • 100Mhz 클럭 속도, 1024 I/O 채널(최대 1280핀)
  • 최대 1024 사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O, ADDA, VI 소스
고전압장치전원공급 Model33021
  • PXI Systems Alliance
고전압 장치 전원 공급
Model 33021
  • 카드당 2개의 채널로 최대 48V DC 출력
범용릴레이드라이버컨트롤 Model33011
  • PXI Systems Alliance
범용 릴레이 드라이버 컨트롤
Model 33011
  • 반도체 로드 보드용 PXI-e 기반 범용 릴레이 컨트롤
  • 32CH 다이렉트 릴레이 드라이버
  • 2레인 SPI 릴레이 제어 인터페이스
고속PXIe디지털IO카드 Model33010
  • PXI Systems Alliance
고속 PXIe 디지털 IO 카드
Model 33010
  • 표준 PXIe 버스 커넥터
  • 최대 클럭 속도 100MHz
  • 보드당 32채널

IC 픽 및 플레이스 핸들러

SingleSiteTestHandler Model3210
Single Site Test Handler
Model 3210
  • SLT handler 
  • Ideal for early device design and engineering validation
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40℃ to 150℃ IC test
하이브리드싱글사이트테스트핸들러 Model3110
하이브리드 싱글 사이트 테스트 핸들러
Model 3110
  • FT and SLT compatible handler 
  • Compatible kit to scale-up production
  • ATC Tri-temp -40 to 150 ℃ IC test (Optional -55 to 150℃ , -70 to 150℃)
  • Auto tray loading/unloading and device sorting capability
전체범위능동열제어핸들러 Model3110-FT
  • CE Mark
전체 범위 능동 열 제어 핸들러
Model 3110-FT
  • -40℃~125℃의 온도 테스트
  • 최종 테스트 또는 시스템 레벨 테스트
  • 3x3mm~45x45mm 패키지
테이블톱싱글사이트테스트핸들러 Model3111
  • CE Mark
테이블톱 싱글 사이트 테스트 핸들러
Model 3111
  • 이 머신은 테이블에 적합하도록 설계되었습니다.
  • JEDEC 트레이(2)
  • IC 패키지: 5x5mm~45x45mm
  • 소프트웨어 구성 가능 비닝
RF솔루션통합핸들러 Model3240-Q
RF 솔루션 통합 핸들러
Model 3240-Q
Chroma 3240-Q는 RF/무선 절연 챔버와 통합된 고유하고 혁신적인 핸들러입니다.
다이테스트핸들러 Model3112
다이 테스트 핸들러
Model 3112
  • 신뢰할 수 있는 픽 앤 플레이스 베어 다이 테스트 핸들러
  • 멀티 플레이트 입력 및 자동화된 테스트 정렬 기능
  • 전방향 조절 가능 프로브 스테이지(X/Y/Z/)
  • 스테이지 잔류 다이 확인 기능
3중온도쿼드사이트핸들러 3160-C
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence 2018
3중 온도 쿼드 사이트 핸들러
3160-C
  • 고급 열 기능(Nitro TEC)
  • 더 빠른 인덱스 시간 0.6초 
  • 능동 열 제어 및 전체 범위 온도
  • 챔버리스 설계
  • 여러 사이트(싱글, 듀얼 또는 쿼드 테스트 사이트) 지원
옥탈사이트테스트핸들러 Model3180
  • CE Mark
옥탈 사이트 테스트 핸들러
Model 3180
  • 최대 8배 병렬 테스트 사이트
  • 최대 9,000 UPH
  • 온도 테스트(주변) ~ 150 ℃
자동시스템기능테스터 Model3260
자동 시스템 기능 테스터
Model 3260
시스템 레벨에서 높은 볼륨/멀티 사이트 IC 테스트를 수행하기에 적합한 혁신적인 핸들러입니다. -40°C~125°C 범위의 ATC 고온에서 병렬식으로 최대 6개 기기를 테스트합니다.
축소형IC핸들러 Model3270
축소형 IC 핸들러
Model 3270
높은 볼륨/멀티 사이트 축소형 IC 테스트에 적합한 혁신적인 핸들러로 특히 시스템 레벨에서 CIS 테스트(CMOS 이미지 센서)를 수행하는 데 매우 적합합니다.
TemperatureForcingSystem Model31000RSeries
Temperature Forcing System
Model 31000R Series
  • -70°C to 150°C temperature range
  • Cost competitive
  • Compact footprint
  • Semi-automation
  • Liquid-free Operation