레이저 다이오드 특성 시험 시스템 Model 58620

레이저다이오드특성시험시스템
주요 특징
  • 엣지 에미팅 레이저 다이오드(Edge -Emitting Laser Diode)풀 턴키(Full Turn Key)자동화 테스트 시스템
  • 다른 자동화 장비와 호환 가능한 고정밀 대용량 캐리어
  • 광 커플드 테스트를 위한 풀 자동화 정렬 기능 제공
  • 기계적 배치 작업시간 지연을 감소하기 위해 자동화된 광 점검
  • 최대 ±0.01℃의 안정성을 갖춘 매우 정확한 TEC 온도 컨트롤러
  • 고속 시험을 위한 PXI 기반 SMU 및 전력계
  • 레이저 다이오드 특성 시험을 위한 분석 소프트웨어 (Ith, Rs, Vf, 기울기 효율성, λp 등)

레이저 다이오드는 이제 매우 흔한 요소가 되고 있습니다. 전 세계적으로 현재 의료 및 방산 응용 분야에 광 통신 네트워크의 중추적인 역할을 하고 있습니다. 레이저 다이오드에는 몇 가지 고정밀 프로세스가 포함되어 있습니다. 이러한 프로세스는 웨이퍼 성장부터 광 조정및 패키지에 이르기까지 고속 테스트에  꽤 많은 비용이 소모됩니다.

Chroma 58620 레이저 다이오드 특성 시험 시스템은  레이저 다이오드의 특성을 시험하기 위해 특별히 설계된 최첨단 풀 턴키(Full Tyrn-Key) 시험 시스템입니다. 이 시험 시스템은 가공한 표면의 광범위한 영역 검사 뿐만 아니라 광 방출부의 넓은 전기광학적 파리미터 시험도 할 수 있습니다.. Chroma의 대용량 캐리어를 사용하면 많은 시료를 신속하게 반복적으로 시험하고 시험 시간을 빠르게 단축 할 뿐만 아니라 안정적이고 신뢰성 있게 시험 할 수 있습니다. . Chroma 58620은 높은 안정성과  대규모 시험 및  온도 제어 플랫폼을 갖추고 있어 생산 환경에서도 R&D 형식의 테스트를 통합할 수 있는 기능을 제공합니다. 이러한 기능을 통해 레이져 다이오드의 포워드 전류와 온도에 대한  상관 관계를 연구할 수 있습니다.

 초정밀 캐리어 설계

Chroma의 고정밀 캐리어는 Chip on Carrier, Submounts, Laser-Bar 등 여러 폼 팩터에 적합하게 적용할 수 있습니다. 혁신적인 양방향 설계는 양쪽에 시료가 대칭으로 배치되어 보다 많은 양의 시료를 시험 할 수 있습니다.. 다층 구조의 캐리어는 , 다른 레이어가 마운팅되면 이미 고정된 각 포켓에 시료가 쉽게 배치되도록 해 줍니다. 열 인터페이스 구조는 고온(Heating) 및 저온(Colling) 싸이클링 시험을 하는 동안 다양한 온도 제어와 더불어 효율적으로 시료에 열이 가해 지도록 접촉 가능하게 해 줍니다. 시료가 삽입된 캐리어가 장착되면 사용자는 원터치 버턴으로 자동화 테스트를 수행할 수 있습니다.

 공유 캐리어

광 커플링에 대한 요구 사항이 상당히 엄격한 광 데이터 및 통신 분야는 고성능 레이저 다이오드의 기본 활용 분야 중 하나입니다. 레이저 다이오드가 최종 제품에 실장되기 전에 대부분의 DC 파라미터 및 광 특성이 파악됩니다. 이를 통해 비용이 훨씬 더 절감되고 현장 안정성이 높아집니다. Chroma 58620은 실제 광 패키지 커플링 테스트를 시뮬레이션하여 커플링 효율성과 스펙트럼 성능을 예측하는 완벽한 자동화된 정렬 스테이션을 갖추고 있습니다. 여러 광학 헤드 및 광섬유가 OSA(광학 스펙트럼 분석기) 등의 광 수신기에 사용되고 커플링되어 인접 모드 억압비(Side Mode Suppression Ration) 및 중심 파장(Center Wavelength)(λp, λc) 등의 전체 스팩트럼 특성을 분석할 수 있습니다. 모든 시료의 데이터는 저장 가능하고 추적할 수 있기 때문에 Chroma 58620은 패키징되지 않은 광학 성능과 최종 패키지된 성능의 상관관계를 제공하므로서최종 패키지 테스트 요구 사항을 줄여 주는 당위성을 제공 합니다.

 AOI 지원 포함 자동 정렬 섬유

반도체 IC 테스트 기술 발전으로 Chroma 58620 레이저 다이오드 테스트 시스템에도 이러한 반도체 IC 테스트 기술인 캐리어 및 변경 킷트 들이 공유되어 레이져 다이오드의 번인(Burn-in)시험에 적용되고 있다.. 캐리어는 시료의 스펙을 바탕으로 고객의 요구사항에 맞게 설계되므로 수 많은 시험 공정 및 번인(Burn-in) 시험을 하는 동안 동반되는 접촉 및 손상으로 부터 레이져 다이오드를 보호하므로 생산성 향상에 기여 합니다. 이와 같이 캐리어는 원활한 번인 시험 및 공정 시험을 수행하기 위해 Chroma 58601 OptoElectronic SMU 모듈과 함께 연동하도록 설계 되었습니다. 58620 변경 키트를 통해 테스트 대상인 레이저 다이오드의 모델 변경 또는 신제품 등시스템은 다양한 시료에 맞게적용할 수 있습니다. 58620은 이러한 다양한 기능을 통해 TO-Can, Chip on Carrier, Laser-bar 등에도 적용 할 수 있습니다.

 고정밀 TEC 온도 제어 플랫폼

레이져 다이오드의 내적 외적 요인에 의해 발생된 온도 스트레스는 스펙트럼 및 전자 광학 특성에 막대한 영향을 끼칩니다. 이러한 문제 때문에 Chroma 58620에는 고정밀 Chroma 54130 - 300W TEC 온도 컨트롤러 및 Chroma 51101 데이터 로거를 사용한 온도 제어 플랫폼이 포함되어 있습니다. 캐리어 플랫폼을 따라 배치된 온도 센서들를 통해 최고 수준의 온도 균일성과 안정도를 보장 하므로. 시험 할 때 세계 최고 수준의 캐리어 온도 균일성과 안정도을 제공하는 설비 입니다.


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