VLSI 테스트 시스템 Model 3380

주요 특징
  • 50/100MHz 클럭 속도
  • 50/100Mbps 데이터 속도
  • 1024 I/O 핀(최대: 1280 I/O 핀)
  • 최대 1024 사이트 병렬식 테스트
  • 32/64 M 패턴 메모리
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 HW-아키텍처(교체 가능 I/O, VI, ADDA)
  • 실제 병렬 트림/매치 기능
  • TFMU(시간 및 주파수 측정 유닛)
  • HSTMU(고속 시간 측정 유닛)
  • AD/DA 테스트 옵션
  • SCAN 테스트 옵션(최대 1G M/체인)
  • 포함된 메모리에 대한 ALPG 테스트 옵션
  • STDF 도구 지원
  • 테스트 프로그램/패턴 컨버터(J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 사용자 친화적 Windows 7 환경
  • CRAFT C/C++ 프로그래밍 언어
  • 3380P 및 3360P와 동일한 SW(소프트웨어)

To cope with the IC testing trend of highspeed, numerous pins, and integration of complicated functions in nowadays semiconductor industry, Chroma's 3380 VLSI Test Systems, the 3380D/3380P/3380 models, have adopted powerful functions according to different pin counts and parallel test ability, providing a complete test solution to fulfill customer's demands in cost and performance.

The 3380 VSLI test system equipped with a maximum of 1280 I/O channels, 256 VI sources, flexible architecture and comprehensive optional function boards (ADDA/Hi-voltage DPS) can meet the high parallel multi-site test tendency. The embedded 1024 I/O pins is capable of testing 1024 ICs in parallel. In addition to supporting the unique 4-wire HD VI source ICs, the 3380 can also test Mini & Micro LED driver IC, CMOS image sensor(CIS), and 3D images through its adjustable structure, which covers a wide range of applications for IC testing.

The 3380 can bridge to 3380D(256 pins) /3380P(512 pins)for higher productivity requirements. No matter it is installation, stability, friendly user interface, or high cost/ performance ratio, the 3380 Series VLSI test systems have been widely proven and adopted by Great China market.


  • MCU device
  • ADC/DAC mixed-signal IC
  • Logic IC
  • ADDA
  • ALPG
  • Smart card
  • CMOS image sensor (CIS)
  • Power IC (Class D IC)
  • Consumer IC
  • LED driver IC

제품 문의

모든 사양은 사전 고지 없이 변경될 수 있습니다.
모델 번호

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