앞으로 고속, 수많은 핀 및 복잡한 기능이 요구되는 IC 테스트 트렌드를 따라잡기 위해 Chroma의 최신 세대 VLSI 테스트 시스템, 3380D/3380P/3380은 높은 통합 밀도 및 강력한 기능을 갖춘 보다 유연한 아키텍처를 도입했습니다.
3380D/3380P/3380 테스트 시스템에는 4 와이어 HD VI 소스와 '모든 핀-모든 사이트' 높은 병렬 테스트(멀티 사이트 테스트) 기능(512 I/O 핀이 512 IC 테스트에 병렬식으로)을 갖추고 있습니다. 이는 앞으로 요구될 더 높은 IC 테스트 요건을 충족할 수 있습니다.
테스트 시스템 3380P도 내장 올인원 설계(테스트 헤드 전용)를 갖추고 있어 소규모 설치 공간/명확한 전력 ATE를 제공함으로써 매우 경쟁력 있는 가성비의 테스트 시스템이 되었습니다.
풍부한 기능 및 폭넓은 취급 범위
로직, MCU, ADDA(혼합 신호); 전력, LED 드라이버, 클래스 D(SCAN, ALPG, Match 등)
