VLSI 테스트 시스템 Model 3380P

VLSI테스트시스템
주요 특징
  • 50/100MHz 클럭 속도
  • 50/100Mbps 데이터 속도
  • 512 디지털 I/O 핀(채널)(최대 576 디지털 I/O 핀)
  • 최대 512 사이트 병렬식 테스트
  • 32/64/128M 패턴 메모리
  • 핀당 16M 캡처 메모리
  • 다양한 VI 소스
  • 유연한 HW-아키텍처(교체 가능 I/O, VI, ADDA)
  • 실제 병렬 트림/매치 기능
  • TFMU(시간 및 주파수 측정 유닛)
  • AD/DA 테스트(16/24비트 옵션)
  • SCAN 테스트 옵션(최대 2G M/체인)
  • 포함된 메모리에 대한 ALPG 테스트 옵션
  • STDF 도구 지원
  • 테스트 프로그램/패턴 컨버터(J750, D10, S50, E320, SC312, V7, TRI-6836)
  • 직접 마운트 프로브 카드는 3360P/3380D 직접 마운트 프로브 카드와 호환됨(256핀만)
  • 케이블 마운트 DUT 카드는 3360D/3360P/3380D 케이블 마운트 DUT 카드와 호환됨(FT/CP)
  • CRAFT C/C++ 프로그래밍 언어 소프트웨어는 3360/3360P와 호환됨
  • 사용자 친화적 Windows 7 환경

앞으로 고속, 수많은 핀 및 복잡한 기능이 요구되는 IC 테스트 트렌드를 따라잡기 위해 Chroma의 최신 세대 VLSI 테스트 시스템, 3380D/3380P/3380은 높은 통합 밀도 및 강력한 기능을 갖춘 보다 유연한 아키텍처를 도입했습니다.

3380D/3380P/3380 테스트 시스템에는 4 와이어 HD VI 소스와 '모든 핀-모든 사이트' 높은 병렬 테스트(멀티 사이트 테스트) 기능(512 I/O 핀이 512 IC 테스트에 병렬식으로)을 갖추고 있습니다. 이는 앞으로 요구될 더 높은 IC 테스트 요건을 충족할 수 있습니다.

테스트 시스템 3380P도 내장 올인원 설계(테스트 헤드 전용)를 갖추고 있어 소규모 설치 공간/명확한 전력 ATE를 제공함으로써 매우 경쟁력 있는 가성비의 테스트 시스템이 되었습니다.

 풍부한 기능 및 폭넓은 취급 범위

로직, MCU, ADDA(혼합 신호); 전력, LED 드라이버, 클래스 D(SCAN, ALPG, Match 등)


제품 문의

모든 사양은 사전 고지 없이 변경될 수 있습니다.
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