As the technology of optoelectronic components is maturing, its applications are broadening as well. Take laser diodes for example, they are no longer limited to communication applications but have expanded into consumer products. Photonics test solutions mainly focus on testing optoelectronic components, such as photodiode, LED, EEL, and VCSEL. They can also apply to configurations from upstream to downstream processes, including wafer, laser bar, bare chip, CoS, and TO-CAN. Chroma's system integration technology uniquely combines automation equipment with precision current sources, temperature controllers, and automated optical measurement instruments to perform an array of electrical, optical power, wavelength, near-field and far-field optics, and other optoelectronic characteristic and aging tests.

Chroma offers precision instruments such as laser drivers, photodetector monitoring, and temperature controllers. These lab class instruments are often integrated into production solutions for wafer probe test, burn-in and device or module characterization then reinforced with inspection, metrology, robotics, Industry 4.0 and more.

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Prüfung auf Package-Ebene

HighDensityLaserDiodeBurn-in&ReliabilityTestSystem Model58604-HD
High Density Laser Diode Burn-in & Reliability Test System
Model 58604-HD
  • Burn-In, reliability, and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel driving and measurement
  • Proprietary spike-free SMU design
  • Up to 500mA single-channel current driving
  • Precise temperature control up to 125ºC
HighChannelDensityBurn-inTester Model58604-C
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
  • Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
  • Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
  • Modular design for easy customization and maintenance
  • Comprehensive ESD protection
  • Independent channels for source and measurement
Burn-InundZuverlässigkeits-PrüfsystemfürLaserdioden Model58604
  • CE Mark
Burn-In und Zuverlässigkeits-Prüfsystem für Laserdioden
Model 58604
  • Geeignet für Burn-in-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfungen
  • ACC- und APC-Steuerungsmodi
  • Individuelle Kanalsteuerung und -messung
  • Antriebsstrom pro Kanal 500 mA und höher
  • Präzise Temperatursteuerung bis 125 °C
  • Einzelmodulbetrieb
HighPowerLaserDiodeBurn-InandReliabilityTestSystem Model58605
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
  • Burn-in, reliability and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel for source and measurement
  • Spike-Free sourcing
  • Up to 6000 mA per channel and pulsing
Einbrenn-und-ZuverlässigkeitstestsystemfürPhotodioden Model58606
Einbrenn- und -Zuverlässigkeitstestsystem für Photodioden
Model 58606
  • Einbrenn-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfung
  • Dunkelstrom und Überschlagspannung
  • Bipolargerätequelle mit 256 Kanälen pro Einschub
  • Hohe Bias-Quelle bis 80 Volt
SystemzurCharakterisierungvonLaserdioden Model58620
System zur Charakterisierung von Laserdioden
Model 58620
  • Vollständiges und schlüsselfertiges automatisiertes Prüfgerät für Kantenemitter-Laserdioden
  • Hochpräziser und Träger mit hoher Kapazität, austauschbar mit anderen automatisierten Vorrichtungen

Modules & Accessories

DevicePowerSupply Model52310eSeries
  • PXI Systems Alliance
Device Power Supply
Model 52310e Series
  • 4 Isolated channels of ±7V, pulse 1A (max)
  • 20-bit measurement resolution
  • Low output noise
  • Maximum sampling rate of 600 KS/s
PXIe-Kurzimpuls-SMU Model52403P
  • PXI Systems Alliance
PXIe-Kurzimpuls-SMU
Model 52403P
  • Alles-in-Einem-LIV-Test-SMU
  • Impulsgeberfunktion - min. Impulsbreiten:
    • 10 uS bei 10 A
    • 8uS @ 3,5 A
    • 5 uS bei 1 A/250 mA
  • Interferenzfreie Induktivität bis zu 3 uH zwischen Testleitung und Prüfling (DUT)
  • SMU-Funktion ± 25 V, DC 3,5 A
HochpräziseSourceMeasureUnit(SMU) Model52400Series
  • PXI Systems Alliance
Hochpräzise Source Measure Unit (SMU)
Model 52400 Series
  • Hohe Quellen- / Messauflösung (mehrere Bereiche)
  • Geringes Ausgangsrauschen
  • Hohe Programmier- / Messgeschwindigkeit (100 k s/S) und Anstiegsrate
Thermo-/Multifunktions-Datenlogger Model51101Series
  • CE Mark
Thermo-/Multifunktions-Datenlogger
Model 51101 Series
  • 1000VDC Kanal-zu-Kanal-Isolierung
  • 0,5 °C Genauigkeit und 0,01 °C Auflösung
ErweiterterTEC-Controller Model54100Series
  • CE Mark
Erweiterter TEC-Controller
Model 54100 Series
  • Temperaturmessung und Einstellungsbereich -70 °C bis 250 °C
  • 0,01 °C Auflösung und 0,3 °C absolute Genauigkeit
  • 1 Stunde Stabilität ± 0,01 °C
  • Langandauernde Stabilität ± 0,05 °C mit PID-Regler