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Prüfung auf Package-Ebene
High Density Laser Diode Burn-in & Reliability Test System
Model 58604-HD
- Burn-In, reliability, and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel driving and measurement
- Proprietary spike-free SMU design
- Up to 500mA single-channel current driving
- Precise temperature control up to 125ºC
High Channel Density Burn-in Tester
Model 58604-C
- Use with chamber or oven for burn-in, reliability and life test
- Auto Current Control (ACC), and Auto Voltage Control (AVC) modes
- Modular design for easy customization and maintenance
- Comprehensive ESD protection
- Independent channels for source and measurement
Burn-In und Zuverlässigkeits-Prüfsystem für Laserdioden
Model 58604
- Geeignet für Burn-in-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfungen
- ACC- und APC-Steuerungsmodi
- Individuelle Kanalsteuerung und -messung
- Antriebsstrom pro Kanal 500 mA und höher
- Präzise Temperatursteuerung bis 125 °C
- Einzelmodulbetrieb
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
- Burn-in, reliability and life test
- ACC and APC control modes
- Independent channel for source and measurement
- Spike-Free sourcing
- Up to 6000 mA per channel and pulsing
Einbrenn- und -Zuverlässigkeitstestsystem für Photodioden
Model 58606
- Einbrenn-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfung
- Dunkelstrom und Überschlagspannung
- Bipolargerätequelle mit 256 Kanälen pro Einschub
- Hohe Bias-Quelle bis 80 Volt
System zur Charakterisierung von Laserdioden
Model 58620
- Vollständiges und schlüsselfertiges automatisiertes Prüfgerät für Kantenemitter-Laserdioden
- Hochpräziser und Träger mit hoher Kapazität, austauschbar mit anderen automatisierten Vorrichtungen
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