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Prüfung auf Package-Ebene

Prüfung auf Package-Ebene

Einbrenn-und-ZuverlässigkeitstestsystemfürPhotodioden Model58606
Einbrenn- und -Zuverlässigkeitstestsystem für Photodioden
Model 58606
  • Einbrenn-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfung
  • Dunkelstrom und Überschlagspannung
  • Bipolargerätequelle mit 256 Kanälen pro Einschub
  • Hohe Bias-Quelle bis 80 Volt

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Burn-InundZuverlässigkeits-PrüfsystemfürLaserdioden Model58604
  • CE Mark
Burn-In und Zuverlässigkeits-Prüfsystem für Laserdioden
Model 58604
  • Geeignet für Burn-in-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfungen
  • ACC- und APC-Steuerungsmodi
  • Individuelle Kanalsteuerung und -messung
  • Antriebsstrom pro Kanal 500 mA und höher
  • Präzise Temperatursteuerung bis 125 °C
  • Einzelmodulbetrieb

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SystemzurCharakterisierungvonLaserdioden Model58620
System zur Charakterisierung von Laserdioden
Model 58620
  • Vollständiges und schlüsselfertiges automatisiertes Prüfgerät für Kantenemitter-Laserdioden
  • Hochpräziser und Träger mit hoher Kapazität, austauschbar mit anderen automatisierten Vorrichtungen

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