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Prüfung auf Package-Ebene

PhotodiodeBurn-inandReliabilityTestSystem Model58606
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
  • Burn-in, reliability and life test
  • Dark Current and Breakdown Voltage
  • 256 channels Bi-polar device source per drawer
  • High bias source to 80 volts
Burn-InundZuverlässigkeits-PrüfsystemfürLaserdioden Model58604
  • CE Mark
Burn-In und Zuverlässigkeits-Prüfsystem für Laserdioden
Model 58604
  • Geeignet für Burn-in-, Zuverlässigkeits- und Lebensdauerprüfungen
  • ACC- und APC-Steuerungsmodi
  • Individuelle Kanalsteuerung und -messung
  • Antriebsstrom pro Kanal 500 mA und höher
  • Präzise Temperatursteuerung bis 125 °C
  • Einzelmodulbetrieb
SystemzurCharakterisierungvonLaserdioden Model58620
System zur Charakterisierung von Laserdioden
Model 58620
  • Vollständiges und schlüsselfertiges automatisiertes Prüfgerät für Kantenemitter-Laserdioden
  • Hochpräziser und Träger mit hoher Kapazität, austauschbar mit anderen automatisierten Vorrichtungen