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Test- und Prüflösungen

LösungfürHalbleiter-/IC-Prüfung
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Automatisiert-optischesInspektionssystem
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Batterieprüfungs-undAutomationslösung
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Newsroom

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03 Dec 2024

Chroma ATE's SoC/Analog Test System Wins 2025 Taiwan Excellence Award

Chroma ATE's SoC/Analog Test System Model 3650-S2 has been honored with the 2025 Taiwan Excellence Award. Organized by the Ministry of Economic Affairs, the Taiwan Excellence Award recognizes products that demonstrate

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02 Jul 2024

Itech Electronics wegen Patentverletzung verurteilt – Gericht ordnet Vernichtung des Lagerbestands an

Chroma ATE gibt bekannt, dass Itech Electronics (Nanjing) Co., Ltd. am 2. Juli 2024 wegen Patentverletzung verurteilt wurde. Das Urteil bezieht sich auf bestimmte Itech-Produkte, die mutmaßlich Patente von Chroma verletzen.

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25 Mar 2024

Chroma Photonic IC Burn-in and Reliability Test System Wins TOSIA Award

Chroma 58604 Photonic IC Burn-in and Reliability Test System has been honored with the 2024 TOSIA Award for Outstanding Product. Presented by the Taiwan Optoelectronic and Semiconductor Industry Association (TOSIA), this award recognizes products for thei

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28 Nov 2024

Chroma ATE Recognized as a Top 100 Carbon Competitiveness Company by Business Weekly

Ranks First in Carbon Productivity Growth Rate

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Events

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ESCMID2025

ESCMID 2025

  • Datum: 2025.Apr.12 – 2025.Apr.15
  • Veranstaltungsort: Messe Wien Exhibition & Congress Center, Vienna, Austria
  • Verkaufsstand: C102
 PCIM2025

PCIM 2025

  • Datum: 2025.May.06 – 2025.May.08
  • Veranstaltungsort: Nuremberg Exhibition Centre, Germany
  • Verkaufsstand: Hall 4, Stand 4-136

Blog

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BatteryDischargeTestSolution—ReducingTransientInrushCurrent Feature Story

Battery Discharge Test Solution —Reducing Transient Inrush Current

Dec-10-2024
Power Electronics Battery
When performing battery tests, relays are often used to connect batteries and bi-directional DC power supplies. What happens the moment the relay is switched?The Chroma 62180D-600 was used as the experimental equipment for this study.provides an applicati

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ReliabilityTestingandBurn-inOptimizationforSemiconductorLasersandOptoelectronics Webinar

Reliability Testing and Burn-in Optimization for Semiconductor Lasers and Optoelectronics

Jul-16-2024
Semiconductor Photonics
In this webinar, you'll learn about the methodology for reliability qualification and optimizing burn-in. You'll also learn about the range of reliability and burn-in hardware on the market, and newly available reliability-test-as-a-service options.

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