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Ladezustands (SoC) Testsystem

HochentwickeltesSoC/AnalogTestsystem Model3680
  • Taiwan Excellence 2022
Hochentwickeltes SoC/Analog Testsystem
Model 3680
  • 24 austauschbare Steckplätze für digitale, analoge und Mixed-Signal-Systeme
  • 150 Mbps bis zu 1Gbps Datenrate (gemischt)
  • Bis zu 512 Sites parallel testen
  • Bis zu 2048 digitale E/A-Pins
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650
  • Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650-EX
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650-EX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX

VLSI Testsystem

VLSITestSystem Model3380P
VLSI Test System
Model 3380P
  • 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
  • Up to 512 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
VLSITestSystem Model3380D
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)
VLSITestSystem Model3380
VLSI Test System
Model 3380
  • 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
  • Up to 1024 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
UniversalRelayDriverControl Model33011
  • PXI Systems Alliance
Universal Relay Driver Control
Model 33011
  • PXIe based universal relay control
  • 32CH direct relay drivers
  • 2 lanes of SPI relay control interface
Hochgeschwindigkeits-PXIeDigital-IO-Karte Model33010
  • PXI Systems Alliance
Hochgeschwindigkeits-PXIe Digital-IO-Karte
Model 33010
  • Standard PXIe-Busanschluss
  • 100 MHz maximale Taktfrequenz
  • 32 Kanäle pro Karte

IC Bestückungshandler

AktivesVollbereichs-Thermokontrollgerät Model3110-FT
  • CE Mark
Aktives Vollbereichs- Thermokontrollgerät
Model 3110-FT
  • Temperaturtest von -40 ~ 125 ˚C
  • Abschlusstest
  • Paket 3x3 mm ~ 45x45x45 mm
Einzel-Site-TesthandlerimTischformat Model3111
  • CE Mark
Einzel-Site-Testhandler im Tischformat
Model 3111
  • Die Maschine ist so konzipiert, dass sie auf den Tisch passt
  • JEDEC-Träger (2)
  • IC-Einheiten: 5x5mm bis 45x45mm
  • Konfigurierbare Einlagerung über Software
Tri-TempOctalSitesHandler 3160-C
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence 2018
Tri-Temp Octal Sites Handler
3160-C
  • Erweiterte Wärmetechnik (Nitro-TEC)
  • Schnellere Indexzeit von 0,6 s
  • Aktive Wärmesteuerung und kompletter Temperaturbereich
  • Kammerloses Design
  • Unterstützt mehrere Sites (Single-, Dual- oder Quad-Teststelle(n))
Achtfach-Prüfstation Model3180
  • CE Mark
Achtfach-Prüfstation
Model 3180
  • Bis zu 8 parallele Prüfvorrichtungen
  • Bis 9000 Stück pro Stunde
  • Temperaturtest bei einer Umgebung bis 150 °C
Hybrid-Einzelprüfstation Model3110
Hybrid-Einzelprüfstation
Model 3110
  • FT + SLT-Prüfstation - Zwei in einem Gerät
  • Perfekt für die Gerätetechnik zur Erfassung und Analyse von Eigenschaften
  • Auto-Tray-Laden/Entladen und Gerätesortierung möglich