Der Chroma 3110 ist eine mobile Einzelprüfstation für ICs, der verschiedene Typen wie QFP, QFN, TSOP, BGA, μBGA und CSP, usw. unterstützt. Die Prüfstation nutzt die P & P-Technologie zur Aufnahme von Geräten aus JEDEC-Trays und deren Transport zur Prüfvorrichtung. Der 3110 führt Prüfungen auf Systemebene aus, bei denen Programme vollständig ausgeführt und die Funktion aller integrierten Elemente überprüft werden. Er kann bei drei Temperaturbereiche in der Testumgebung betrieben werden, neben der Umgebungstemperatur auch hohe und niedrige Temperaturbereiche.

Zusätzlich zur Bearbeitungsmöglichkeit von Bauteilen von 3 x 3 mm bis 55 x 55 mm hat die Maschine einen automatischen Stapel und zwei manuelle Behälterplatten zur Maximierung der Belade- und Entladekapazität. Es verfügt über eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche auf Windows-Basis und bietet zudem Schnittstellen zum Andocken an verschiedene Prüfvorrichtungen.

Tri-temp-Regelung

• Temperaturgenauigkeit: ±2°C
• Rückmeldung der Gerätetemperatur (Thermoelement / RTD / Thermistor)
• PID-Rampensteuerung (mit Auto-Tuning-Funktion)
• PWM TE-Leistungssteuerung
• Matrizenkraftregelung
• Modulare Trockenluftkammer
• Wasserkühler
• Trockenluftversorgung

Geschlossener Regelkreis für aktives thermische Kontrollmodul (ATC)

• Temperaturgenauigkeit: ±2°C
• All-in-One-Prüfarm
• Rückmeldung der Gerätetemperatur
• PID-Rampensteuerung (mit Auto-Tuning-Funktion)
• PWM TE-Leistungssteuerung
• Matrizenkraftregelung
• Geschlossenes Kühlsystem (keine externen Rohre)
• Kammerlos

PTC-Einheit (Passive Thermal Control)

• Temperaturbereich: <85°C (bis zu 300W Verlustleistung)
• Geschlossenes Kühlsystem (keine externen Rohre)
• All-in-One-Prüfarm
• Matrizenkraftregelung
• Weder Wasserkühler noch Trockenluftversorgung