Teilentladungs-Prüfgerät Model 19501-K/19500 Series

Teilentladungs-Prüfgerät
Teilentladungs-Prüfgerät
Teilentladungs-Prüfgerät
Hauptmerkmale
  • Eingebaute Hipot-Prüf- und Teilentladungs-Erkennungsfunktion in einem Gerät
  • Programmierbarer Spannungsausgang: 0,1 kVAC - 10 kVAC
  • Strommessgerät mit hoher Genauigkeit und Auflösung: 0,01 uA - 300 uA
  • Teilentladungs-Erfassungsbereich: 1 pC - 2000 pC
  • Hochspannungs-Kontakt-Prüffunktion (HVCC)
  • Entspricht den Standards IEC 60747-5-5 und IEC 60270-1
  • Eingebaute IEC 60747-5-5 Prüfverfahren 
  • 3 Stufen der Spannungsprüffunktion 
  • Digitalanzeige für Teilentladungs-Prüfergebnisse [pC]
  • Einstellung des Auftretens von Teilentladungsfehlern zur Bewertung (1 - 10) 
  • Grafische Bearbeitungsfunktion
  • USB-Bildschirmfunktion 
  • Bedienoberfläche auf Englisch und vereinfachtem bzw. traditionellem Chinesisch
  • Standard-, USB-, LAN-, RS-232- und Prüfstand-Schnittstelle

 


Das Chroma 19501-K Teilentladungs-Prüfgerät kombiniert Hipot-Test und PD-Erkennungsfunktionen (Teilentladung) in einem Gerät. Das Gerät kann eine maximale 10 kV AC-Leistung mit einem Ableitstrommessbereich von 0,01 uA bis 300 uA und einer minimalen Teilentladungserkennung von 1 pC liefern. Das Prüfgerät wurde speziell für die Prüfung von Hochspannungs-Halbleiterkomponenten und Hochisoliermaterialien entwickelt. Das Design des 19501-K entspricht den Normen IEC 60270-1 und IEC 60747-5-5 und verfügt über integrierte Prüfverfahren nach IEC 60747-5-5. Es erfüllt nicht nur die Anforderungen an die Produktionsprüfung von Optokopplerprodukten, sondern bietet dem Anwender auch eine benutzerfreundliche und komfortable Bedienoberfläche. 

Bei der Durchführung von Hipot-Tests an der Produktionslinie führt eine schlechte Verbindung zwischen Prüfling und Prüfkreis dazu, dass der Test negativ ausfällt oder umgangen wird. Daher ist es sehr wichtig, dass vor der Prüfung eine sichere Verbindung zwischen Prüfling und Prüfkreis hergestellt ist. Bei hochisolierenden Komponenten verwendet die HVCC-Funktion (High Voltage Contact Check) die Kelvin-Prüfmethode, um Kontaktprüfungen gleichzeitig mit dem Hipot-Test durchzuführen, was Zuverlässigkeit und Effizienz der Prüfung verbessert.


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