Das Chroma 19501-K Teilentladungs-Prüfgerät kombiniert Hipot-Test und PD-Erkennungsfunktionen (Teilentladung) in einem Gerät. Das Gerät kann eine maximale 10 kV AC-Leistung mit einem Ableitstrommessbereich von 0,01 uA bis 300 uA und einer minimalen Teilentladungserkennung von 1 pC liefern. Das Prüfgerät wurde speziell für die Prüfung von Hochspannungs-Halbleiterkomponenten und Hochisoliermaterialien entwickelt. Das Design des 19501-K entspricht den Normen IEC 60270-1 und IEC 60747-5-5 und verfügt über integrierte Prüfverfahren nach IEC 60747-5-5. Es erfüllt nicht nur die Anforderungen an die Produktionsprüfung von Optokopplerprodukten, sondern bietet dem Anwender auch eine benutzerfreundliche und komfortable Bedienoberfläche. 

Bei der Durchführung von Hipot-Tests an der Produktionslinie führt eine schlechte Verbindung zwischen Prüfling und Prüfkreis dazu, dass der Test negativ ausfällt oder umgangen wird. Daher ist es sehr wichtig, dass vor der Prüfung eine sichere Verbindung zwischen Prüfling und Prüfkreis hergestellt ist. Bei hochisolierenden Komponenten verwendet die HVCC-Funktion (High Voltage Contact Check) die Kelvin-Prüfmethode, um Kontaktprüfungen gleichzeitig mit dem Hipot-Test durchzuführen, was Zuverlässigkeit und Effizienz der Prüfung verbessert.