Chroma 11090-030 RF LCR 미터는 SMD 칩 인덕터 및 RF 필터 등의 수동 부품에 대한 고주파 측정 및 평가 솔루션을 제공합니다. 최대 300MHz의 테스트 주파수를 갖춘 이 장비는 POL 또는 소형 DC-DC 컨버터와 같은 부품의 공칭 주파수 테스트에 대한 증가하는 수요를 충족할 뿐만 아니라 초고주파에서만 감지할 수 있는 품질 이상 현상도 해결합니다. 또한 EMI 필터 및 페라이트 비드와 같은 부품에 대한 일반적인 100MHz 임피던스 테스트 요건을 충족할 수 있습니다.
이 솔루션은 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 등의 측정 파라미터와 다양한 수동 부품 테스트에 필요한 기타 1차 및 2차 파라미터를 지원합니다. RF 전류-전압 변환 기술을 사용하는 100kHz ~ 300MHz의 넓은 테스트 주파수 범위는 네트워크 분석기보다 더 넓은 임피던스 측정 범위를 제공하고 자동 밸런싱 브리지 기술보다 더 높은 주파수 측정 범위를 제공합니다. 이는 R&D 및 품질 보증 부서가 다양한 주파수에서 수동 부품 특성을 분석하는 데 적합합니다. 또한 장비의 초저음 노이즈, 저고조파 왜곡 신호 발생기는 고품질 측정 신호를 제공하여 임피던스 테스트의 정확성을 향상시킵니다.
11090-030의 기본 측정 정확도는 0.8%로 매우 안정적이고 신뢰할 수 있는 측정 결과를 보장합니다. 0.5ms의 빠른 측정 속도 덕분에 자동화 환경에서 작업할 경우 효과적으로 생산성이 높아집니다. SMD 테스트 고정부는 다양한 종류의 소형 SMD와 호환되며, 개선된 푸시다운 작동 방식을 채택하여 90도 회전할 수 있어 단 3단계만으로 DUT를 변경할 수 있습니다(실제 테스트에는 약 40초 소요). 이를 통해 다양한 크기의 DUT를 변경하는 데 소요되는 시간을 줄이고 장치 가이드를 반복적으로 재조립할 필요가 없어 테스트 속도가 빨라지고 마모 및 유지 관리 비용도 절감됩니다.
Chroma 11090-030은 종합적인 설계와 강력한 기능 향상을 통해 제품 특성화, 자동 생산 라인의 신속한 테스트, 다양한 입고 및 출고 검사 응용 분야를 위한 완벽한 테스트 솔루션을 제공합니다.
고주파 소형 전력 인덕터는 대부분 금속 주형입니다. 그러나 ①원래 자성체 불량(대형 금속파우더/산화철피막 불량), ②임펄스 권선 시험 후 산화막 부분 손상, ③코일 에나멜 절연 손상으로 인해 자성체와 직접 접촉하는 등의 이상 현상은 모두 자성체의 불량을 유발할 수 있습니다. 이는 품질 계수(Q)가 감소하여 후속 사용 중에 과열되기 쉽습니다. 공칭 주파수 테스트 조건에서 이러한 세 가지 유형의 이상 현상을 테스트할 때 Q 값은 인덕터의 낮은 임피던스로 인해 프로브의 접촉 저항에 의해 크게 영향을 받습니다. 테스트 주파수를 높여 임피던스를 높이고 프로브의 접촉 저항의 영향을 줄임으로써 자성 소재 및 와이어 절연의 이상 검출 속도를 높일 수 있습니다. 이 방법은 인덕터 산업에서 널리 활용됩니다.
인덕터에 사용되는 대부분의 자성 금속 파우더는 표면을 산화막으로 처리하여 고주파 AC로 인한 와전류 손실을 줄이고, 결과적으로 사용 가능한 주파수 범위를 확장하는 동시에 전력 손실과 열을 줄입니다. 사용자는 외관상 파우더 크기와 산화막 압축 성형 및 소결의 무결성을 확인할 수 없지만 고주파 테스트는 이러한 특성을 식별하는 데 효과적입니다.
그림 1은 인덕터의 고주파 등가 회로와 인덕턴스(Ls)와 Q 사이의 관계에 대한 공식을 보여줍니다. 품질 이상을 감지하기 위해 자체 공진 주파수(SRF) 근처의 Ls 값을 사용하는 것이 일반적인 업계 관행이며 이는 앞서 설명되었습니다. 이는 본질적으로 접촉 저항의 영향을 피하면서 Q 값이 낮은지 여부를 확인하는 것입니다. 일반 인덕터는 부유 용량으로 인해 SRF에 가까운 L이 더 높은 반면, 불량 제품은 과도한 손실로 인해 Q 값이 크게 감소하여 L이 더 낮습니다. Chroma 11090-030의 넓은 100kHz-300MHz 테스트 범위는 정격 Ls/Q 및 고주파수 L의 이중 테스트 요구 사항을 충족하여 이러한 인덕터의 생산 요구 사항을 충족합니다. 이 테스터는 R&D, 품질 보증 및 일반 인덕터 사용 사례에도 적합합니다.
▲ (그림 1) 인덕터의 고주파 등가 회로와 Ls-Q 공식
▲ (그림 2) 샘플 측정 및 설명 곡선
Chroma 11090-030은 RF-IV 측정 방법을 사용하여 피시험 장치(DUT)의 전압 및 전류를 측정합니다. 11090-030은 일반 네트워크 분석기에 비해 더 넓은 임피던스 범위(100mΩ~5kΩ)에서 보다 정확한 측정을 제공하며, 소수의 nH의 인덕턴스 값을 측정할 수 있습니다. 또한 11090-030의 넓은 주파수 범위(100kHz ~ 300MHz)는 수백 kHz 및 MHz 레벨을 커버하는 이중 주파수 테스트 요구 사항이 있는 DUT를 충족하기 때문에 여러 세트 또는 스테이션에 별도의 테스트 장비를 배포할 필요가 없어 조달 비용을 절감할 수 있습니다.
▲ 측정 시간 느림, 테스트 신호 1dBm, 섭씨 23도에서 평균 ≧ 8번
Note1. Avg = 8, OSC = 1 dBm, 보정 수행(23 ± 5°C에서)
Note2. Freq = 100MHz, Ave = 8, OSC = 1dBm, 보정 수행(23 ± 5°C에서)
Note3. Freq = 1 MHz, Ave = 8, OSC = 1dBm, 보정 수행(23 ± 5°C에서)
보정/보상 안내 기능
RF LCR 측정에서는 정확한 보정(OPEN/SHORT/LOAD)이 중요합니다. 보정 과정에서 오류나 누락이 있으면 결과가 부정확해질 수 있습니다. 11090-030은 이 복잡한 프로세스에서 오류를 제거하는 가이드 보정/보상 방법을 제공합니다. 사용자 친화적인 보정 절차 안내는 누락된 단계의 위험을 줄이고 표준 부품 선택 시 오류를 최소화하기 위한 그래픽 지침을 제공하며 보정 프로세스를 완료한 사용자에게 해당 디스플레이를 제공합니다.
▲ 보정/보상 메뉴
▲ 보정 메뉴
▲ 보상 메뉴
Rdc를 사용하여 자기 부품에 대한 접촉 확인
RF LCR 측정 대상인 SMD 부품은 일반적으로 매우 작기 때문에 테스트 고정부와의 접촉 품질을 결정하거나 자동화된 테스트에서 품질을 결정하는 것은 어렵습니다. 11090-030은 직류 저항 Rdc를 사용하여 자기 부품의 접촉 확인 기능을 제공합니다. Rdc는 보정이 필요하지 않은 파라미터이며 자성 부품(인덕터, EMI 필터, 비드)의 접촉을 확인하는 가장 직접적인 방법을 제공합니다. 이 기능을 사용하면 생산 라인에서 불량제품을 분류할 때 결함을 보다 정확하게 분류하고 효율성을 높일 수 있습니다.
다중 파라미터 비교 및 분류 기능
RF 테스트에는 다양한 파라미터, 절대값, 백분율, 주요 및 2차 파라미터 초점, 고/저 판단 방법으로 인해 달라질 수 있는 다양한 주파수 영역에서 제품 또는 결함의 정도를 결정하는 작업이 포함됩니다. Chroma 11090-030은 각각 4개의 한계값을 갖는 최대 13개의 빈을 갖춘 유연한 테이블 형식을 제공합니다. 주파수 및 측정 파라미터와 같은 조건을 각 열에서 독립적으로 설정할 수 있는 11090-030은 다양한 측정 주파수의 다양한 파라미터를 포함하여 다양한 정렬 요건을 충족할 수 있습니다.
최대 401개 포인트를 사용한 다중 포인트 테스트 및 곡선 생성
RF 부품은 여러 주파수 영역에서 파라미터 주파수 응답 변화를 분석해야 하는 경우가 많습니다. 11090-030의 최대 401개의 포인트를 가진 멀티포인트 측정 기능은 사용자에게 보다 상세하고 정확한 측정값을 제공합니다. 이는 생산 테스트 및 분석 담당자가 부품 주파수 특성을 신속하게 이해하는 데 도움이 되는 다중 포인트 목록 및 특성 곡선 플롯 옵션을 제공합니다.
▲ 멀티포인트 목록
▲ 동시 다중 파라미터 곡선 플로팅
▲ 단일 파라미터 곡선 플로팅
명확하고 직관적인 작동
11090-030은 풀 컬러 고해상도 LCD 터치 디스플레이를 활용하여 여러 파라미터 테스트 결과 및 설정, 비교 및 정렬 결과, 기준 값과의 편차를 명확하게 보여줍니다. 식별이 용이한 직관적인 아이콘이 장비 상태를 표시하고 빠른 작동을 위한 지침을 제공하여 사용자에게 유용성과 포괄적인 정보를 제공합니다.
특허 TW M621845 / CN 216013502U
SMD 부품은 다양하고 작은 크기로 제공되므로 위치 지정을 위해 매우 정밀한 특수 소재가 필요합니다. 그러나 크기를 변경하려면 장치 가이드를 재조립해야 하는 경우가 많으며, 이는 시간이 오래 걸릴 뿐만 아니라 고가의 부품과 심이 손상될 위험도 있습니다. SMD 테스트 고정부는 다양한 종류의 소형 SMD와 호환되며, 개선된 푸시다운 작동 방식을 채택하여 90도 회전할 수 있어 단 3단계만으로 DUT를 변경할 수 있습니다(실제 테스트에는 약 40초 소요). 이를 통해 다양한 크기의 DUT를 변경하는 데 소요되는 시간을 줄이고 장치 가이드를 반복적으로 재조립할 필요가 없어 테스트 속도가 빨라지고 마모 및 지속적인 유지 관리 비용도 절감됩니다.
11090-030은 측정 조건 설정, 측정 동작 트리거링, 측정 결과 결정 및 측정 데이터 수집을 위한 인터페이스를 포함하는 전체 범위의 인터페이스를 제공합니다. LAN, GPIB, USB(B-Type), RS-232 및 USB(A-Type) 스토리지 인터페이스가 모두 포함되어 있습니다. 핸들러 인터페이스를 통해 측정을 트리거하고 판단 결과를 내보낼 수 있습니다.
▲ 참고: USB 포트는 파워뱅크 충전, 휴대폰 충전 또는 전류 요구사항이 0.5A를 초과하는 장치에는 사용할 수 없습니다.
