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ギャラリー リスト 3D光学プロファイラ 3D光学プロファイラーModel 7503 白色光干渉測定による高精度非破壊検査 モジュール設計による拡張性の高いシステム 断面差、夾角、面積、寸法、粗さ、うねり、膜厚、平坦度など様々な表面測定 様々な3Dファイル形式の保存と読み取りが可能。 お問合せカートに入れる ウェーハチップ両面検査システムModel 7940 両面同時カラー検査 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ) 自動ウェーハアライメント機能 ウェーハ形状/エッジ認識機能 欠陥検出率99%以上 お問合せカートに入れる 多機能外観測定システムModel 7505-05 携帯電話、スマートフォン、バッテリー、カバーガラスの外観品質検査に対応 2D測定用の高解像度カメラを実装 3D測定用のラインセンサーを実装 2D&3D測定を一台のマシンで測定可能 トンネル型設計による高速測定 各テスト項目の外観品質を即時ヒストグラムで提供 SPC分析機能 CNCナイフパターン除去技術 お問合せカートに入れる ミニLEDバックライトモジュール自動光学テストシステムModel 7661-K003 2Dカラーアナライザー71803-2は、ミニLEDの明るさ、色、および欠陥の分析ができます 試験項目:色度、明るさ、光度、均一性、電圧、電流、デッドライト オプションのChroma LEDパワーテスターと光学モジュールにより、テストシステムを統合できます お問合せカートに入れる
ギャラリー リスト 3D光学プロファイラ 3D光学プロファイラーModel 7503 白色光干渉測定による高精度非破壊検査 モジュール設計による拡張性の高いシステム 断面差、夾角、面積、寸法、粗さ、うねり、膜厚、平坦度など様々な表面測定 様々な3Dファイル形式の保存と読み取りが可能。 お問合せカートに入れる ウェーハチップ両面検査システムModel 7940 両面同時カラー検査 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ) 自動ウェーハアライメント機能 ウェーハ形状/エッジ認識機能 欠陥検出率99%以上 お問合せカートに入れる 多機能外観測定システムModel 7505-05 携帯電話、スマートフォン、バッテリー、カバーガラスの外観品質検査に対応 2D測定用の高解像度カメラを実装 3D測定用のラインセンサーを実装 2D&3D測定を一台のマシンで測定可能 トンネル型設計による高速測定 各テスト項目の外観品質を即時ヒストグラムで提供 SPC分析機能 CNCナイフパターン除去技術 お問合せカートに入れる ミニLEDバックライトモジュール自動光学テストシステムModel 7661-K003 2Dカラーアナライザー71803-2は、ミニLEDの明るさ、色、および欠陥の分析ができます 試験項目:色度、明るさ、光度、均一性、電圧、電流、デッドライト オプションのChroma LEDパワーテスターと光学モジュールにより、テストシステムを統合できます お問合せカートに入れる