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ギャラリー リスト SoC試験システム 高機能SOC/ANALOGテストシステムModel 3680 デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン お問合せカートに入れる High Density Audio Video OptionHDAVO Chroma 3680 optional module お問合せカートに入れる Advanced SoC/Analog Test SystemModel 3650 Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer Expandable platform with up to 640 channels 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA お問合せカートに入れる SoC/アナログテストシステムModel 3650-EX ロジック/アナログ測定機能を自由に組み合わせ 各種デバイスに対応できる最適な半導体テストシステム お問合せカートに入れる VLSI試験システム VLSI Test SystemModel 3380P 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins) Up to 512 sites Parallel testing Various VI source Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source お問合せカートに入れる VLSI Test SystemModel 3380D 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins Up to 256 sites Parallel testing Various VI source Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA) お問合せカートに入れる VLSI Test SystemModel 3380 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins) Up to 1024 sites Parallel testing Various VI source Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source お問合せカートに入れる PXIe プログラマブル高電圧デバイス電源モジュールModel 33021 1モジュールに2チャンネル最大48VDC出力 お問合せカートに入れる PXIe プログラマブルデバイス電源モジュールModel 33020 1モジュールに8チャンネルの高電力密度設計 お問合せカートに入れる PXIe ユニバーサルリレードライバコントローラモジュールModel 33011 PXIeベースのユニバーサルリレーコントローラ 32チャンネルダイレクトリレードライバ 2レーンSPIリレーコントロールインターフェース お問合せカートに入れる PXIe プログラマブル高速デジタルIOカードModel 33010 PXIeバス接続 最大周波数:100MHz チャンネル数:32(最大256chまで拡張可能) 3380D/3380P/3380と互換性のあるプログラム お問合せカートに入れる ピックアップ&プレースハンドラ 低高温(ATC)ICテストハンドラModel 3110-FT 設定可能温度 -40~125℃ FT試験及びSLT試験対応 測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション) お問合せカートに入れる Tabletop Single Site Test HandlerModel 3111 Tabletop design for smaller table space 60 cm2 (2) Fixed JEDEC trays IC package size ranges: 5x5mm to 45x45mm Software configurable binning お問合せカートに入れる RF Solution Integrated Handler Model 3240-Q The Chroma 3240-Q is a unique and innovative handler with integration of RF/Wireless isolation chamber. お問合せカートに入れる Tri-Temp Octal Sites Handler3160-C Advance thermal technology (Nitro TEC) Faster index time 0.6 sec Active thermal control and full range temperature Chamber less design お問合せカートに入れる Octal Site Test HandlerModel 3180 Up to x8 parallel test sites Up to 9000 UPH Temperature test from ambient ~150℃ お問合せカートに入れる Hybrid Single Site Test HandlerModel 3110 Optional Tri-temp IC test function (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃) FT+SLT Handler (Two In One) Perfect for Device Engineering Characterization Gathering and Analysis Auto Tray Load/unload & Device Sorting capability Tester Zero waiting time お問合せカートに入れる Die Test HandlerModel 3112 Reliable Pick&Place bare die test handler Multi-plate input and automated test sorting capability Omni-directional adjustable probe stage (X/Y/Z/θ) Stage remain die check function お問合せカートに入れる Automatic System Function TesterModel 3240 Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level. Test up to 4 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from 50°C to 125°C. お問合せカートに入れる Automatic System Function TesterModel 3260 Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level. Test up to 6 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from -40°C to 125°C. お問合せカートに入れる Miniature IC Handler Model 3270 Innovative handler for high volume/multisite miniature IC testing, especially for CIS Testing (CMOS Image Sensor), at system level. お問合せカートに入れる Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test ApplicationsModel 31000R Temperature range of -40°C to 150°C Compact footprint Self-contained – No external chiller required Liquid-free Operation お問合せカートに入れる
ギャラリー リスト SoC試験システム 高機能SOC/ANALOGテストシステムModel 3680 デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン お問合せカートに入れる High Density Audio Video OptionHDAVO Chroma 3680 optional module お問合せカートに入れる Advanced SoC/Analog Test SystemModel 3650 Application coverage: PMIC, ADDA/Memory, Controller, MCU, and all sorts of consumer Expandable platform with up to 640 channels 50 / 100 MHz clock rate; 100 / 200 Mbps (MUX) data rate Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA お問合せカートに入れる SoC/アナログテストシステムModel 3650-EX ロジック/アナログ測定機能を自由に組み合わせ 各種デバイスに対応できる最適な半導体テストシステム お問合せカートに入れる
VLSI試験システム VLSI Test SystemModel 3380P 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins) Up to 512 sites Parallel testing Various VI source Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source お問合せカートに入れる VLSI Test SystemModel 3380D 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins Up to 256 sites Parallel testing Various VI source Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA) お問合せカートに入れる VLSI Test SystemModel 3380 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins) Up to 1024 sites Parallel testing Various VI source Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source お問合せカートに入れる PXIe プログラマブル高電圧デバイス電源モジュールModel 33021 1モジュールに2チャンネル最大48VDC出力 お問合せカートに入れる PXIe プログラマブルデバイス電源モジュールModel 33020 1モジュールに8チャンネルの高電力密度設計 お問合せカートに入れる PXIe ユニバーサルリレードライバコントローラモジュールModel 33011 PXIeベースのユニバーサルリレーコントローラ 32チャンネルダイレクトリレードライバ 2レーンSPIリレーコントロールインターフェース お問合せカートに入れる PXIe プログラマブル高速デジタルIOカードModel 33010 PXIeバス接続 最大周波数:100MHz チャンネル数:32(最大256chまで拡張可能) 3380D/3380P/3380と互換性のあるプログラム お問合せカートに入れる
ピックアップ&プレースハンドラ 低高温(ATC)ICテストハンドラModel 3110-FT 設定可能温度 -40~125℃ FT試験及びSLT試験対応 測定可能パッケージ寸法 3x3 mm~45x45 mm コンタクト圧制御可能範囲 1~10 kg (オプション) お問合せカートに入れる Tabletop Single Site Test HandlerModel 3111 Tabletop design for smaller table space 60 cm2 (2) Fixed JEDEC trays IC package size ranges: 5x5mm to 45x45mm Software configurable binning お問合せカートに入れる RF Solution Integrated Handler Model 3240-Q The Chroma 3240-Q is a unique and innovative handler with integration of RF/Wireless isolation chamber. お問合せカートに入れる Tri-Temp Octal Sites Handler3160-C Advance thermal technology (Nitro TEC) Faster index time 0.6 sec Active thermal control and full range temperature Chamber less design お問合せカートに入れる Octal Site Test HandlerModel 3180 Up to x8 parallel test sites Up to 9000 UPH Temperature test from ambient ~150℃ お問合せカートに入れる Hybrid Single Site Test HandlerModel 3110 Optional Tri-temp IC test function (Standard: -40℃~135℃, Option: -55℃~150℃) FT+SLT Handler (Two In One) Perfect for Device Engineering Characterization Gathering and Analysis Auto Tray Load/unload & Device Sorting capability Tester Zero waiting time お問合せカートに入れる Die Test HandlerModel 3112 Reliable Pick&Place bare die test handler Multi-plate input and automated test sorting capability Omni-directional adjustable probe stage (X/Y/Z/θ) Stage remain die check function お問合せカートに入れる Automatic System Function TesterModel 3240 Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level. Test up to 4 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from 50°C to 125°C. お問合せカートに入れる Automatic System Function TesterModel 3260 Innovative handler for high volume/multi-site IC testing at system level. Test up to 6 devices in parallel at high temperature with ATC ranging from -40°C to 125°C. お問合せカートに入れる Miniature IC Handler Model 3270 Innovative handler for high volume/multisite miniature IC testing, especially for CIS Testing (CMOS Image Sensor), at system level. お問合せカートに入れる Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test ApplicationsModel 31000R Temperature range of -40°C to 150°C Compact footprint Self-contained – No external chiller required Liquid-free Operation お問合せカートに入れる