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高機能SOC/ANALOGテストシステム Model3680
高機能SOC/ANALOGテストシステム
Model 3680
  • デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
  • 最大データレート150 Mbps
  • 最大512パラレルテスト対応
  • 最大2048デジタルI/Oピン
AdvancedSoC/AnalogTestSystem Model3650
Advanced SoC/Analog Test System
Model 3650
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer 
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
SoC/アナログテストシステム Model3650-EX
SoC/アナログテストシステム
Model 3650-EX
  • ロジック/アナログ測定機能を自由に組み合わせ
  • 各種デバイスに対応できる最適な半導体テストシステム