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パッケージレベル試験システム

PhotonicsModuleTestSystem Model58625
Photonics Module Test System
Model 58625
  • All-in-one test system
  • Flexible test station arrangement
  • Precise temperature control -20~85℃
  • Large beam angle measurement
HighPowerLaserDiodeBurn-InandReliabilityTestSystem Model58605
High Power Laser Diode Burn-In and Reliability Test System
Model 58605
  • Burn-in, reliability and life test
  • ACC and APC control modes
  • Independent channel for source and measurement
  • Spike-Free sourcing
  • Up to 6000 mA per channel and pulsing
PhotodiodeBurn-inandReliabilityTestSystem Model58606
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
  • Burn-in, reliability and life test
  • Dark Current and Breakdown Voltage
  • 256 channels Bi-polar device source per drawer
  • High bias source to 80 volts
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム Model58604
  • CE Mark
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム
Model 58604
  • バーンイン、信頼性及び寿命試験に適用可能
  • ACC及びAPC制御モード
  • 個々のチャネルの駆動と測定
  • チャンネルあたり500mA電流を駆動
  • 125℃までの正確な温度制御
  • 個々のモジュール動作
レーザーダイオード特性評価システム Model58620
レーザーダイオード特性評価システム
Model 58620
  • 端面発光レーザーダイオードのフルターンキーテストシステム
  • 他のレーザーダイオード試験器と互換性を持つ大容量キャリア
  • ファイバ結合試験用のオートアライメント機能搭載
TO-CAN/CoCBurninテストシステム Model58603
TO-CAN/CoC Burn inテストシステム
Model 58603
  • Burn inテスト、信頼性テスト、ライフテストを提供
  • 各システムは最大10個のモジュールテストを提供
  • 自動電流制御モード(ACC)と自動電力制御モード(APC)に対応