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ウェーハレベル試験システム

PhotonicsWaferProbingTestSystem Model58635Series
Photonics Wafer Probing Test System
Model 58635 Series
  • Up to 6" wafer
  • Support both QCW and CW operation
  • LIV test, Near Field test, Far Field test, LIV-λ & NF two-in-one test
ウェーハチップ両面検査システム Model7940
ウェーハチップ両面検査システム
Model 7940
  • 両面同時カラー検査
  • 最大6インチウェーハハンドリング可能(検査エリア8インチ)
  • 自動ウェーハアライメント機能
  • ウェーハ形状/エッジ認識機能
  • 欠陥検出率99%以上

パッケージレベル試験システム

PhotonicsModuleTestSystem Model58625
Photonics Module Test System
Model 58625
  • All-in-one test system
  • Flexible test station arrangement
  • Precise temperature control -20~85℃
  • Large beam angle measurement
PhotodiodeBurn-inandReliabilityTestSystem Model58606
Photodiode Burn-in and Reliability Test System
Model 58606
  • Burn-in, reliability and life test
  • Dark Current and Breakdown Voltage
  • 256 channels Bi-polar device source per drawer
  • High bias source to 80 volts
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム Model58604
  • CE Mark
レーザーダイオードバーンイン&信頼性テストシステム
Model 58604
  • バーンイン、信頼性及び寿命試験に適用可能
  • ACC及びAPC制御モード
  • 個々のチャネルの駆動と測定
  • チャンネルあたり500mA電流を駆動
  • 125℃までの正確な温度制御
  • 個々のモジュール動作
レーザーダイオード特性評価システム Model58620
レーザーダイオード特性評価システム
Model 58620
  • 端面発光レーザーダイオードのフルターンキーテストシステム
  • 他のレーザーダイオード試験器と互換性を持つ大容量キャリア
  • ファイバ結合試験用のオートアライメント機能搭載
TO-CAN/CoCBurninテストシステム Model58603
TO-CAN/CoC Burn inテストシステム
Model 58603
  • Burn inテスト、信頼性テスト、ライフテストを提供
  • 各システムは最大10個のモジュールテストを提供
  • 自動電流制御モード(ACC)と自動電力制御モード(APC)に対応
TO-CANパッケージ検査システム Model7925
TO-CANパッケージ検査システム
Model 7925
  • TO-CANパッケージのレンズの傷、亀裂、パーティクル、メタルキャップの欠陥を検査可能
  • 様々な高さのトレーとパッケージに対応するオートフォーカス機能
  • 合否判定基準を変更できる欠陥基準エディタ