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Chroma ATE
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AIServerPowerBBUTesting — Solutions for Various AI Server Power Testing Needs
AI Server Power
BBU Testing

Solutions for Various AI Server Power Testing Needs
AI Server Power / BBU Testing

Chroma Server Power & BBU Test Solutions

AIServerPowerBBUTesting — Solutions for Various AI Server Power Testing Needs
AI Server Power
BBU Testing

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AI Server Power / BBU Testing

Chroma Server Power & BBU Test Solutions

Chroma'sReliabilityTestSolutionsforSiPh/PICManufacturing — Behind Every Optics Breakthrough
Chroma's Reliability Test Solutions for SiPh/PIC Manufacturing

Behind Every Optics Breakthrough
Chroma's Reliability Test Solutions for SiPh/PIC Manufacturing

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Chroma'sReliabilityTestSolutionsforSiPh/PICManufacturing — Behind Every Optics Breakthrough
Chroma's Reliability Test Solutions for SiPh/PIC Manufacturing

Behind Every Optics Breakthrough
Chroma's Reliability Test Solutions for SiPh/PIC Manufacturing

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Chromaバッテリーセルの充放電試験をワンストップで — Behind Every Battery Cell Test Breakthrough
Chromaバッテリーセルの充放電試験をワンストップで

Behind Every Battery Cell Test Breakthrough
Chromaバッテリーセルの充放電試験をワンストップで

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Chromaバッテリーセルの充放電試験をワンストップで — Behind Every Battery Cell Test Breakthrough
Chromaバッテリーセルの充放電試験をワンストップで

Behind Every Battery Cell Test Breakthrough
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製品情報

半導体ICハンドラ関連

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自動光学検査関連

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電源関連

ServerPowerandBatteryBackupUnit(BBU)TestSolutions

Server Power and Battery Backup Unit (BBU) Test Solutions

EV・PHV関連

バッテリーテスト＆自動化ソリューション

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電力貯蔵システム＆パワーコンバージョンシステム関連ソリューション

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受動部品関連

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電気安全関連

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テレビ・モニタディスプレイ関連

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液晶・OLEDフラットパネルディスプレイ関連

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関連

レーザーダイオード関連

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LED関連

太陽光発電インバーター試験自動化ソリューション

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インバーター試験
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PXI

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ニュース

交流電源61700シリーズ用オプションA617002販売終了のお知らせ

平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。

Chroma 17040E 広い電圧範囲・多用途シミュレーション、一台で車載用と電力貯蔵バッテリーモジュールテストに対応

世界的なカーボンニュートラルの推進とエネルギー転換の加速に伴い、システムの変換効率向上とエネルギー損失低減のため、高電圧バッテリー技術が電力貯蔵システム（ESS）や電気自動車（EV）産業の注目を集めています。電力貯蔵システムの分野では、メガワット（MW）級の出力と長時間の安定した電力供給をサポートし、効率的に電力を貯蔵・放出するため、1500Vの高電圧設計が採用されています。さらに、HUAWEI、SUNGROW、CATL、BYDなどの主要企業が製造する電力貯蔵コンテナでは、このアーキテクチャに液冷技術が組

IFEC 2025 国際未来エネルギーチャレンジ決勝大会、クロマ本社にて開催

クロマ、計測機器とラボを提供し、世界の若き技術イノベーションを支援

クロマジャパン名古屋営業所開設のお知らせ

さて、このたび弊社では業務拡張に伴いまして、表題のとおり名古屋営業所を開設する運びとなりました。

イベント情報

SEMICONJapan2025

SEMICON Japan 2025

日程： 2025.Dec.17 – 2025.Dec.19
場所：東京ビッグサイト
ブース番号：東ホール　E4425

Blog

BatteryDischargeTestSolution—ReducingTransientInrushCurrent

Battery Discharge Test Solution —Reducing Transient Inrush Current

Dec-10-2024

電源バッテリーテスト

When performing battery tests, relays are often used to connect batteries and bi-directional DC power supplies. What happens the moment the relay is switched?The Chroma 62180D-600 was used as the experimental equipment for this study.provides an applicati

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ReliabilityTestingandBurn-inOptimizationforSemiconductorLasersandOptoelectronics

Reliability Testing and Burn-in Optimization for Semiconductor Lasers and Optoelectronics

Jul-16-2024

半導体レーザーダイオード

In this webinar, you'll learn about the methodology for reliability qualification and optimizing burn-in. You'll also learn about the range of reliability and burn-in hardware on the market, and newly available reliability-test-as-a-service options.

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