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AI CPU & GPU VCORE Power Testing

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AIServerPowerBBUTesting — Solutions for Various AI Server Power Testing Needs
AI Server Power
BBU Testing

Solutions for Various AI Server Power Testing Needs
AI Server Power / BBU Testing

Chroma Server Power & BBU Test Solutions

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SafeguardingYourPowerComponentsandIsolatedComponents — Safeguarding Your Power Components and Isolated Components

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YieldingSpeedyProgression — Behind Every Breakthrough
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Chroma's System Level Testing

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Chroma's System Level Testing

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Our leading-edge solutions catalyze breakthroughs across tech industries, setting new benchmarks for quality and reliability. Partner with us in empowering future technologies for a better world.

製品情報

半導体ICハンドラ関連

半導体
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自動光学検査関連

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電源関連

ServerPowerandBackupBatteryUnit(BBU)TestSolutions

Server Power and Backup Battery Unit (BBU) Test Solutions

EV・PHV関連

バッテリーテスト＆自動化ソリューション

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自動化ソリューション

電力貯蔵システム＆パワーコンバージョンシステム関連ソリューション

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受動部品関連

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電気安全関連

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テレビ・モニタディスプレイ関連

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液晶・OLEDフラットパネルディスプレイ関連

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関連

レーザーダイオード関連

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LED関連

太陽光発電インバーター試験自動化ソリューション

太陽光発電
インバーター試験
自動化ソリューション

PXI

solution

ニュース

製品マニュアル提供方法変更のお知らせ

このたび、弊社はESG（環境・社会・ガバナンス）方針のもと、環境保護や持続可能な社会の実現を目指して、製品マニュアルの提供方法を変更することといたしました。

修理サポート終了製品のご案内

下記製品は生産停止となり、すでに保守部品の供給も終了しております。しかしながらこれまで修理サポートを続けてまいりましたが、これ以上部品の確保が困難となり、修理サポートを終了させて頂いております。長らくご愛顧頂き、誠にありがとうございます。

Chroma Virtualオンライン展示会を初開催！

新エネルギー、5G＆AIoT、光学＆ディスプレイ、スマート工場の4つの領域のChromaテストソリューションを展示します。多様な製品情報、製品外観の360度ビューなど最新なテストソリューションをいつでもどこでも体験できます。

クロマジャパン名古屋営業所開設のお知らせ

さて、このたび弊社では業務拡張に伴いまして、表題のとおり名古屋営業所を開設する運びとなりました。

イベント情報

人とくるまのテクノロジー展2025YOKOHAMA

人とくるまのテクノロジー展 2025 YOKOHAMA

日程： 2025.May.21 – 2025.May.23
場所：パシフィコ横浜
ブース番号：188

人とくるまのテクノロジー展2025NAGOYA

人とくるまのテクノロジー展 2025 NAGOYA

日程： 2025.Jul.16 – 2025.Jul.18
場所：Aichi Sky Expo（愛知県国際展示場）
ブース番号：55

Blog

BatteryDischargeTestSolution—ReducingTransientInrushCurrent

Battery Discharge Test Solution —Reducing Transient Inrush Current

Dec-10-2024

電源バッテリーテスト

When performing battery tests, relays are often used to connect batteries and bi-directional DC power supplies. What happens the moment the relay is switched?The Chroma 62180D-600 was used as the experimental equipment for this study.provides an applicati

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ReliabilityTestingandBurn-inOptimizationforSemiconductorLasersandOptoelectronics

Reliability Testing and Burn-in Optimization for Semiconductor Lasers and Optoelectronics

Jul-16-2024

半導体レーザーダイオード

In this webinar, you'll learn about the methodology for reliability qualification and optimizing burn-in. You'll also learn about the range of reliability and burn-in hardware on the market, and newly available reliability-test-as-a-service options.

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