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VLSITestSystem
VLSI Test System
Model 3380P
  • 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
  • Up to 512 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
VLSITestSystem
VLSI Test System
Model 3380D
  • 100 MHz clock rate, 256 I/O digital I/O pins
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible HW-architecture (Interchangeable I/O, VI, ADDA)
VLSITestSystem
VLSI Test System
Model 3380
  • 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
  • Up to 1024 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
PXIeユニバーサルリレードライバコントローラモジュール
  • PXI Systems Alliance
PXIe ユニバーサルリレードライバコントローラモジュール
Model 33011
  • PXIeベースのユニバーサルリレーコントローラ
  • 32チャンネルダイレクトリレードライバ
  • 2レーンSPIリレーコントロールインターフェース
PXIeプログラマブル高速デジタルIOカード
  • PXI Systems Alliance
PXIe プログラマブル高速デジタルIOカード
Model 33010
  • PXIeバス接続
  • 最大周波数:100MHz
  • チャンネル数:32(最大256chまで拡張可能)
  • 3380D/3380P/3380と互換性のあるプログラム