第三屆2026致茂論文獎
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Chroma'sOne-StopBatteryCellCharge/DischargeTestSolutions
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Chroma'sReliabilityTestSolutionsforSiPh/PICManufacturing
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01 Oct 2025

Chroma攜手明志科大智慧載具研發中心，打造電驅動環境測試驗證平台

明志科技大學智慧載具研發中心以培育車用領域人才、強化技術能量為核心任務，長期致力於智慧電動車與電驅動系統的研發。中心專注於建構電動車輛、車用電池與智慧系統的測試驗證能力，打造支持產業創新的技術服務平台。為提升研發效率與產品可靠性，中心引進Chroma電驅動測試平台，建置整合式環境測試驗證環境，以滿足從研發初期到量產前的多元驗證需求。

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25 Sep 2025

精準對接高互動影音市場需求Chroma推出HDMI®QFT完整檢測方案

為因應日益增長的即時互動影音需求，HDMI®（High-Definition Multimedia Interface）規範中定義QFT（Quick Frame Transport，快速畫面傳輸）是一項針對影像延遲（Display Latency）所設計的技術，透過加快影像傳輸速度達到有效降低輸入延遲（Input Lag），此技術特別適用於對即時反應與高畫質有高度需求的應用場景，例如遊戲、互動影音、虛擬實境等，藉由縮短畫面從來源裝置到顯示端的傳送時間，QFT 可大幅提升使用者體驗，實現更流暢、無延遲的互動

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25 Aug 2025

從研發到量產 – Chroma SLT 解決方案，加速轉化流程並提升良率

以大範圍溫度控制、高良率與彈性化測試能力，賦能先進封裝應用

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24 Jul 2025

IFEC 2025 國際未來能源總決賽 於Chroma總部舉行

致茂提供量測設備與實驗室，支持全球青年技術創新能量

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TheBatteryShowNorthAmerica2025

The Battery Show North America 2025

  • 日期： 2025.Oct.06 – 2025.Oct.09
  • 地點：Huntington Place, Detroit, MI
  • 攤位號：5018
 SEMICONWEST2025

SEMICON WEST 2025

  • 日期： 2025.Oct.07 – 2025.Oct.09
  • 地點：Phoenix Convention Center, Phoenix, AZ 
  • 攤位號：945

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電池放電測試方案—減少搭接瞬間突波電流 應用案例

電池放電測試方案—減少搭接瞬間突波電流

Dec-10-2024
電力電子 電池
本文將以Chroma 62180D-600為範例，介紹若雙向直流電源與電池搭接這個環節沒有適當的設定，突波電流可能過大並導致Relay損壞，甚至待測物和設備也有損壞風險。本文提供一個應用手法，以降低突波電流的方式可以減少電容值或是降低電壓差。

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ReliabilityTestingandBurn-inOptimizationforSemiconductorLasersandOptoelectronics 線上研討會

Reliability Testing and Burn-in Optimization for Semiconductor Lasers and Optoelectronics

Jul-16-2024
半導體 光子學
In this webinar, you'll learn about the methodology for reliability qualification and optimizing burn-in. You'll also learn about the range of reliability and burn-in hardware on the market, and newly available reliability-test-as-a-service options.

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