-
MyChroma
-
0詢價車
-
全球據點
Tel: +886-3-327-9999
Email: info@chromaate.com
查詢離您最近的服務據點
Quick Menu
IC測試分類機 (IC Test Handler)
三溫測試分類機
Model 3110-FT
- Temperature Test from -40~125℃
- Final Test or System Level Test
- 3x3mm~45x45mm Package
三溫測試分類機
Model 3111
- 桌上型設計僅占較小空間
- 可放置兩個JEDEC料盤
- 支援5x5mm到45x45mm晶片尺寸
- 可由軟體介面設定分類數
- 測試頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力衝擊
三溫終端測試分類機
3160-C
- 先進的溫控技術(Nitro-TEC 氮氣溫度控制器)
- 更快的Index Time(0.6 sec)
- 主動式溫度控制並且提供更全面的測試溫度區間
- Chamber Less的設計
- 支持更多樣化測試Sites的選擇(1/2/4 sites)
三溫系統板測試分類機
Model 3260C
- 高速可靠Pick&Place分類機
- 同步吸嘴雙取與雙放設計
- IC殘留檢測功能、通用治具設計
- Nitro TEC主動式溫控技術導入
- 更快速的升降溫反應速度
Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test Applications
Model 31000R
- Temperature range of -40°C to 150°C
- Compact footprint
- Self-contained – No external chiller required
- Liquid-free Operation
- ↑