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SoC測試系統

先進SoC/模擬測試系統
先進SoC/模擬測試系統
Model 3680
  • 24個可互換插槽,用於數字、模擬和混合信號應用
  • 150 Mbps數據速率 (muxed模式最高最高1Gbps)
  • 最高512 sites並行測試
  • 多達2048個數字通道管腳
SoC/Analog測試系統
SoC/Analog 測試系統
Model 3650
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer 
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
SoC/Analog測試系統
SoC/Analog 測試系統
Model 3650-EX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
SoC/Analog測試系統
SoC/Analog 測試系統
Model 3650-CX
  • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 256 channels
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA

VLSI測試系統

VLSI測試系統
VLSI 測試系統
Model 3380P
  • 50/100 MHz測試頻率、50/100 Mbps數據速率
  • 512數字通道管腳 (最高可至 576數字通道管腳)
  • 並行測試可達512 sites同測數
  • 多樣彈性VI電源
VLSI測試系統
VLSI 測試系統
Model 3380D
  • 50/100 MHz測試頻率、50/100 Mbps數據速率
  • 256數字通道管腳
  • 並行測試可達256 sites同測數
  • 多樣彈性VI電源
VLSI測試系統
VLSI 測試系統
Model 3380
  • 50/100 MHz測試頻率、50/100 Mbps數據速率
  • 1024 I數字通道管腳 (最高1280 數字通道管腳)
  • 高達1024 sites並行測試
UniversalRelayDriverControl
  • PXI Systems Alliance
Universal Relay Driver Control
Model 33011
  • PXIe based universal relay control
  • 32CH direct relay drivers
  • 2 lanes of SPI relay control interface
HighVoltageDevicePowerSupply
  • PXI Systems Alliance
High Voltage Device Power Supply
Model 33021
  • Max. 48V DC output with 2 channels per card
HighSpeedPXIeDigitalIOCard
  • PXI Systems Alliance
High Speed PXIe Digital IO Card
Model 33010
  • Standard PXIe bus connector
  • 100MHz maximum clock rate
  • 32 channels per board

IC測試分類機 (IC Test Handler)

三溫測試分類機
  • CE Mark
三溫測試分類機
Model 3110-FT
  • Temperature Test from -40~125℃
  • Final Test or System Level Test
  • 3x3mm~45x45mm Package
三溫測試分類機
  • CE Mark
三溫測試分類機
Model 3111
  • 桌上型設計僅占較小空間
  • 可放置兩個JEDEC料盤
  • 支援5x5mm到45x45mm晶片尺寸
  • 可由軟體介面設定分類數
  • 測試頭內建氣室,可吸收及減緩下壓觸力衝擊
無線射頻分類機
無線射頻分類機
Model 3240-Q
3240-Q是一台獨特且創新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機
三溫終端測試分類機
  • CE Mark
  • Taiwan Excellence
三溫終端測試分類機
3160-C
  • 先進的溫控技術(Nitro-TEC 氮氣溫度控制器)
  • 更快的Index Time(0.6 sec)
  • 主動式溫度控制並且提供更全面的測試溫度區間
  • Chamber Less的設計
  • 支持更多樣化測試Sites的選擇(1/2/4 sites)
八站邏輯測試分類機
  • CE Mark
八站邏輯測試分類機
Model 3180
  • 具有八個平行測試站點
  • 9Kpcs產能
  • 溫度測試範圍從常溫到高溫150℃
雙用單站測試分類機
雙用單站測試分類機
Model 3110
運用Pick & Place技術,將待測晶片由進料艙移至測試區,再依測試結果進行分類。不但適用於系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力。
晶片測試分類機
晶片測試分類機
Model 3112
具備單頭與多頭之適合量產的PnP自動化晶片測試分類機
三溫系統板測試分類機
三溫系統板測試分類機
Model 3260C
  • 高速可靠Pick&Place分類機
  • 同步吸嘴雙取與雙放設計
  • IC殘留檢測功能、通用治具設計
  • Nitro TEC主動式溫控技術導入
  • 更快速的升降溫反應速度
自動化系統功能測試機
自動化系統功能測試機
Model 3240
  • 4-sites
  • 可供多組PCB level平行測試的大量生產機具
自動化系統功能測試機
自動化系統功能測試機
Model 3260
  • 6-sites
  • 可供多組PCB level平行測試的大量生產機具
微型IC測試分類機
微型IC測試分類機
Model 3270
適合CMOS 影像感應元件 (CMOS Image Sensor, CIS)量產所需
CobraTemperatureForcingSystemforATE/SLTTestApplications
Cobra Temperature Forcing System for ATE/SLT Test Applications
Model 31000R
  • Temperature range of -40°C to 150°C
  • Compact footprint
  • Self-contained – No external chiller required
  • Liquid-free Operation