致茂電子將於「台北國際電子產業科技展(TAITRONICS)」實機展出新量測方案，包括電源、電池、電動車與儲能等測試解決方案，並運用數位科技結合線上展覽與新產品發表，讓因疫情而無法到訪的國外訪客也能如臨其境，參與此國際盛會。
Chroma 3U/15kVA回收式電網模擬電源 功率密度領先業界
致茂新推出61809/61812/61815回收式電網模擬電源，以3U⾼的機體空間實現最⼤15kVA功率輸出能⼒，為目前市場上功率密度領先的劃世代交流電源，並具備單/三相輸出模式、350VLN寬範圍電壓輸出、200V~480V全球通⽤入電規格、以及100%能源回收功能等出⾊的硬體能⼒。全系列機種除了做為IT電源或電器產品的輸入交流電模擬外，也可適⽤於新能源產業的各項電源測試應⽤，如：太陽能逆變器、儲能系統(ESS)、電⼒調節系統(PCS)、微電網(Microgrid)、電⼒相關硬體迴路模擬(PHIL)、電動⾞電源設備(EVSE)、⾞載充電器(OBC)及雙向⾞載充電器(BOBC)等。
Chroma EV Propulsion System Power HIL解決方案 實現功率等級硬件在環測試
新型電驅動總成台架測試系統Chroma 1210與電池包整合測試系統Chroma 8610，具備新能源車動力總成與電池包相關零部件整合測試能力，包括電機、電機控制器、傳動系統及電池包與模組等。支援Altair Activate車輛模型及各種Simulink Model-Based之實時數學模型導入，於電動車測試領域推進Digital Twin技術，並結合Chroma 電源負載與電池充放電機實現功率等級仿真輸出，以達到動態實車工況模擬，同時可模擬系統異常狀態並進行故障模式分析，降低產品開發風險並提升測試效率。
Chroma 17040 電池系統測試
Chroma 17040 能源回收式測試系統，可輸出1000V高壓及最大600kW功率，適用於儲能方案中電池系統 (Battery Energy Storage System, BESS)的設計驗證研究、進出貨檢驗、生產測試、產品取證等用途。透過Chroma 17040系統，模擬電池系統在調頻進行時，電力調節系統對電池系統的充放電行為，同時間檢出電池芯在調頻過程的各串電池芯的電壓變化，查出電池系統組裝品質的缺陷，避免電池芯過充或過放的狀態縮短電池系統的循環壽命，是電池系統測試的良好利器。
Chroma 17010充放電測試系統搭配全新專業Battery LEx 軟體
Chroma 17010充放電測試系統是專為鋰離子電池芯信賴性測試所設計的解決方案，電壓及電流涵蓋範圍分別為0~6V與200μA~1200A，有高達±0.015% of F.S.的電壓精確度且電流可自動切換量程以維持測試精準度最高達±0.02% of F.S.，並具備全域性硬體防護措施保障安全以降低測試風險。使用者可依需求選擇電流輸出200μA~60A具低輸出雜訊與快速電流響應的系列、或電流輸出可達100A~1200A及低耗能的雙向能源回收系列。此外，更搭配全新軟體Battery LEx，能透過多層配方架構與獨立建立待測物資料庫實現配方共用，並以群組式通道管理讓測試狀態更清晰，帶來更彈性、便利且智慧化的充放電測試操作，完成高效率的測試計畫。
Chroma 11210鋰離子電池芯注液前的局部放電偵測及絕緣檢測
Chroma 11210電池芯絕緣測試機是專為鋰離子電池電芯絕緣異常檢出量身打造的絕緣測試機，特別設計「於高壓量測過程中，能針對絕緣體內微小的局部放電(Partial Discharge)或電氣閃絡(Flashover)進行偵測與分析」，此功能可協助鋰離子電池(乾電芯)測量出在電解液填充前的有效絕緣距離是否足夠，避免潛在不良品進入下一生產階段或流入終端市場，相較於傳統的絕緣測試，Chroma 11210電池芯絕緣測機提升鋰離子電池驅動的電子電氣產品的安全性至新的境界。
Chroma 19311 金屬薄膜電阻雷射切割處的絕緣品質檢測
金屬薄膜電阻被普遍應用在如電動車、充電樁、太陽能/電源轉換、回授/控制線路、等不同領域裡做電壓/電流控制或讀取，或是做分壓/分流使用。金屬薄膜電阻的精準度能做的很精確是由於金屬薄膜電阻可以使用雷射切割的方式調整電阻值，而如何確保金屬薄膜電阻在正常工作條件下不會因為雷射切割處的絕緣品質不良或絕緣距離的不足而劣化造成電阻值改變，引起電動車或各種新能源應用之安全事故。Chroma 19311能為金屬薄膜電阻提供一個對切割槽距檢測足夠高的測試電壓(最高6kV)且不影響電阻品質之極短暫(<160uS)的脈衝測試，檢測其是否有絕緣品質或絕緣距離不足的問題，確保其長久信賴性。
Chroma 19501-K功率半導體元件與散熱基板間的局部放電檢測
功率半導體元件於新能源的應用領域在綠能環境下的發展備受關注，如電動車、太陽能光電等大的工作電流與需求較高電壓切換，除了本身具備良好的散熱外更需考慮與散熱基板間的絕緣耐壓，如何確保功率半導體元件在正常工作條件下沒有持續性局部放電造成安全品質疑慮成為最重要的議題。Chroma 19501-K局部放電測試器能為您精準檢測功率半導體元件在高電壓工作下是否有連續性局部放電(PD in pC)發生，把關長期工作之品質與可靠性。
TAITORNICS台北國際電子產業科技展 (10月21‐23日)，致茂電子將於台北南港展覽館一館1F (攤位號: J0410)展出多元的測試解決方案，我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，並期待在此年度盛會中與您見面。