電池芯/鋰電容/超級電容信賴性測試

伺服器電源系統與BBU（Battery Backup Unit）應用中，電池芯的信賴性為資料安全與備援穩定性的關鍵因子。BBU作為緊急備援電源模組，需在突發斷電的毫秒內即時啟動，並具備多年備援待命而不失效的能力。透過信賴性測試，可模擬資料中心實際環境下的長期運行狀況與極端條件壓力，預先暴露潛在失效風險，確保電芯在整個產品壽命週期內持續穩定運作。

• 支援法規測試應用

  Chroma 17010/17010H支援IEC62620國際標準多項測試條件，包含高倍率C-rate放電測試、DCIR測試、循環耐久性測試、以及整合第三方安全型環境箱進行高/低溫特性測試，能夠一站式解決認證需求。

• 提供DVA劣化測試解決方案

  Chroma 17208M-5-12C是17010系列機種中專為電池劣化分析應用而設計的超高精度充放電測試設備。適合如：庫侖效率分析（CE）、增量容量分析（ICA）與差分電壓分析（DVA）等測試應用，提供全程電流輸出穩定、確保長時間測試精準來排除因量測跳動誤差造成曲線雜訊量過大，以獲取高品質的測試數據，無需資料後處理。

鋰離子電容耐久性測試

人工智慧應用場景日益多元，大型語言模型（LLM）用於訓練與推論運算的高密度集成AI GPU所需功率不斷攀升。如何快速穩定提供峰值電力，避免AI GPU運算中斷，成為資料中心的重大挑戰，以鋰離子電容器（LIC）為主的電容器儲能系統（Capacitor Energy Storage System, CESS）被視為備援電力的重要解決方案之一。

• 提供IEC 62813下線測試解決方案

  Chroma 17010/17010H系統具備符合IEC 62813標準測試工步，提供使用者進行電容容值（Capacitance）與直流內阻（DCR）測試，便於對測試結果進行待測物分級。

• 支援LIC耐久性測試

  為確保應用於CESS中的LIC能夠長時間作為穩定高功率輸出的備援電力，在選用時也會進行性能衰減驗證，17010/17010H系統具備低輸出雜訊與高量測精度特性的循環耐久性壽命測試，以獲取高品質的測試數據，有效判定LIC特性。