為鼓勵青年學子投入精密量測領域之研發及創意應用，為產業界舉才，並增進產、官、學、研各界之互動與合作，進而促進精密機械及量測技術之提昇與創新，特舉辦「致茂精密機械與量測技術論文獎」。

徵文對象

大專院校碩、博士在學或應屆畢業生（之在學研究成果，不限為第一次發表），決賽以論文公開發表方式呈現。

競賽主題

1. 半導體光學檢測技術
2. 電能轉換與驅控技術
3. 電力電子關鍵元件及零組件
4. 電動車動力系統(Powertrain)測試技術
5. 熱傳材料 (Thermal Interface Material) / 熱阻量測技術
6. 微米級精密機械技術
7. 積體化光子晶片測試技術
8. 機器學習應用於精密檢測或控制技術
9. 微波與毫米波量測技術
10. 人工智慧 (AI) /機器學習 (ML) 之半導體測試主題

活動時程

• 活動報名與徵稿：即日起 - 2023/10/31
• 投稿截止日：2023/10/31 下午17時
• 初審及複審：2023/10/31 - 2024/1/31
• 決賽公告：2024/2/1
• 繳交決賽簡報：2024/2/1 - 2024/2/29
• 繳交決賽簡報截止日：2024/2/29
• 致茂精密機械與量測技術論文獎頒獎典禮：2024/3/14

截稿日期

2023年10月31日（二）下午17時。決賽簡報檔案請於決賽一週前繳交，決賽現場恕無法抽換檔案。

審查與評分

一、論文獎審核標準包含：「論文創新性」、「產業應用性」、「論文組織架構」。
「論文創新性」含技術、功能、用途創新性等。
「產業應用性」含工程技術水準提升或國內提出之新技術或應用時機等。
「論文組織架構」含研究方法及圖表數據之正確性、文獻彙整及架構之完整度。

二、主辦單位邀請國內產、官、學、研專家學者組成「致茂精密機械與量測技術論文獎活動評審委員會」，並分初審、複審及決審三步驟。初、複審為書面審查，進入決審者須接受口頭報告及詢答，並經由審查委員會審查後，給予適當評語及建議，同時評選出優良作品以資獎勵。

獎勵方式

報名投稿

詳情請至論文獎活動官網：