Chroma 致茂電子參與SEMICON China 2023 中國國際半導體展，將展示一系列創新的半導體測 試解決方案，專注於AI 人工智慧領域、高效能運算(High Performance Computing, HPC)、汽車 半導體與AIoT 等運用，以滿足不斷發展的半導體測試需求。

超低溫測試解決方案

全新推出Chroma A310002 超低溫測試系統，為三溫(Tri-Temp)測試系統，系統提供-70~+150℃ 穩定的溫控範圍，可應用在各種嚴峻的溫度測試，熱消散功率可達1,000 Watt，與Chroma 3200 多元化SLT 測試分類平台(Versatile SLT Test Platform)結合，可提供多站SLT 測試平臺在產線使用，也可搭配軟體工具CVOT(Chroma Virtual Operation Tools)，輕鬆掌握生產資訊與進行良率提升。Chroma 超低溫測試解決方案可滿足多種測試應用產業，例如：汽車半導體晶片、人工智慧與資料中心、圖形處理器、加速處理單元、高效能計算、航空與國防等測試應用，可確保晶片在嚴苛環境下運作無虞，是產品可靠測試的最佳選擇。

Power IC 測試解決方案

Chroma 3650-S2 SoC/類比測試系統是致茂新推的高效能Power IC 測試平台，可滿足現今高電壓、大電流、與複雜數位控制的Power IC 測試需求，提供最高768 電源通道，最高3000V 或320A 的供電能力，並具備Chroma 3650 超過 十年以上的數位經驗與能力，像是最高768 數位通道、200Mbps 與300ps 時序沿設置精度(EPA)等，是測試鋰電池管理IC、電源管理IC、以及GaN 與SiC 相關Power IC 的理想選擇。

先進SoC測試解決方案

Chroma 3680 高精度SoC 測試系統有效滿足人工智慧(AI)與車用等尖端科技晶片的測試需求，專為近年來最熱門的系統單晶片 (System on a Chip, SoC) 與系統級封裝(System in a Package, SiP)設計，可提供高達2048 個數位通道，數 位通道速率最高可達1Gbps，支持最高16G 集成SCAN 向量存儲深度，並提供多種測試模組供使用者選擇，可同時完成數位邏輯、參數測試單元、電源、記憶體、混合訊號、以及RF 無線通訊等測試。

RF 射頻晶片測試解決方案

Chroma 3680/3380/3300 ATE 測試系統整合旗下ADIVIC MP5806S，即為完整的RF 射頻晶片測試方案，具備S Parameter & Noise Figure 功能可完整測試FEM/PA/Switch/LNA 等零元件，並支援Bluetooth、Wi-Fi、NB-IoT、 GPS/BeiDou 等(IoT)通訊標準和Tuner 應用，提供更全面的RF 射頻晶片測試。

SEMICON China 2023(6 月29 日~7 月1 日)，致茂電子將於上海新國際博覽中心(攤位: E3館 E3157)，我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，期待在此年度盛會中與您見面。